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WG-15J顯微鏡/測量顯微鏡WG-15J
- 公司名稱：
- 更新時間：
- 所 在 地：
- 生產地址：
- 瀏覽次數：
- 上海滬粵明科學儀器有限公司
- 2022-07-12 14:53:44
- 上海市
- 上海
- 894
【簡單介紹】
【詳細說明】
WG-15J測量顯微鏡www.hym021.com
WG-15J測量顯微鏡
性能指標：
光學系統規格
| 物鏡 | 目鏡 | 顯微鏡 | 工作 距離 | 視場 直徑 | ||
| 放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | 焦距 | 放大倍數 | ||
| 2.5×/0.08 | 43.40 | 10× | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
| 10×/0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.6 | ||
測量工作臺讀數裝置主要規格
X軸遇到測量范圍50nm
Y軸遇到測量范圍13nm
測量器分度值：0.01nm
測量臺轉動范圍不限：NO limit
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游標讀數示值：6’
測量精度：
儀器示值誤差：± （4+L/15）μ m
儀器示值誤差：包括測量誤差和系統誤差
注：測量地點溫度變化20℃ ±3℃，L--被測件長度
