LANGER EMV-Technik探頭MFA 01技術指標
MFA 01微型近場探頭組簡介:
由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高,PCB上存在大量雜散場和雜散電流,并以磁場形式相互耦合,導致產生GHz級別的輻射擾。的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件,只有使用高分辨率探頭,才能真正找出問題所在。
LANGER EMV-Technik公司推出的新一代手持式有源近場探頭(MFA 01),頻率范圍覆蓋1MHz到6GHz,分辨率可達200µm,用于PCB布線、元器件和IC引腳的細致的磁場測量,能對集成電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量,使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題,使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。所有微型磁場探頭都有內置的放大器,BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗為50?,為微型磁場探頭提供穩定的供電(9V/100mA),BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器采用SMA連接器。
近場探頭組MFA 01包括:
H-場探頭MFA-R 0,2-6
H-場探頭MFA-R 0,2-75
H-場探頭MFA-K 0,1-12
偏置器BT 706
電源適配器
SMA-SMA電纜,長度1米
盒子(340 x 240 x 55) mm
主要技術指標:
| 頻率范圍 | 分辨率 | 結構 | 連接器 |
MFA-R 0,2-75 | 1MHz~1GHz | 300 µm | 雙水平環 | SMA |
MFA-R 0,2-6 | 100MHz~6GHz | 300 µm | 垂直環 | SMA |
MFA-K 0,1-12 | 100MHz~6GHz | 200 µm | 垂直環 | SMA |
偏置器BT 706 | 500kHz~6GHz |
|
| SMA
|
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