主要參數
1、測試頻率:20Hz~200KHz,精確度0.02%基本量測準確度:0.1%
2、3種阻抗輸出模式選擇,測量結果可與各廠家之LCR表對比增強式圈數比
3、準確測量,適用于低磁道率的磁芯
4、提供各種標準測試治具及特殊治具訂制四端測試治具,可得到DCR,電感量和圈數比精確穩定的測量。內建式比較器,10級分類及計數功能(僅適于3252/3302)2M SRAM記憶卡供機臺資料設定及備份標準RS~232,HANDLER及PRINER界面50組內部儀器設定可供儲存及呼叫
5、測試參數:圈數比(TURN RATIO),相位(PHASE),圈數(TURN),電感(L),品質因子(Q),漏電感(LK),平衡(BALANCE),交流電阻(ACR),電容(CP),直流電阻(DCR),接腳短路(PIN SHORT)
6、測試電壓:10MV-10V,10MV/STEP
7、測試頻率:20Hz~200KHz/1MHz