PJ60半導體檢查顯微鏡

儀器簡介：

1、采用了離合器驅動的手動XY載物臺，平臺面積450mmX220mm，在反射光照明模式下，操作員可

在150mmX150mm的范圍內移動載物臺。搭載了歐米特OMT-1.5D軟件，可電動控制物鏡轉盤切

換倍數和軟件控制雙向聯控，提高了檢查精度和速度。各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對

比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善 ,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計，擁有

堅實可靠的系統結構。

2、顯微鏡采用長工作距離復消色差APO物鏡，2X/NA0.06/WD34, 5X/NA0.15/WD45, 10X/NA0.3/WD34, 20X/NA0.3/WD31 （可選50X物鏡NA0.45,WD20.1和100X物 鏡NA0.80,WD6）。超長的工作距離帶來更自由的操作空間。特別適合半導體探針，點墨，擦拭，清潔等工站使用

3.全新采用半復消技術，集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察下都 能呈現清晰銳利的顯微圖像，可根據實際應用，進行功能選擇，是工業檢 測的有效工具。

4.全新的操作系統機構，采用人機工程學設計，限度減輕操作者的使用疲勞，模塊化的部件設計，可對系統功能進行自由組合，滿足工業檢測與金相分析的專業領域需求。