描述

薄膜測試系統提供完整的一套膜厚測試系統，可以對單層或多層的5nm-200um的快速測試。這套系統包含便攜式光纖光譜儀，反射式探針和光源。通過樣品正面反射的正弦條紋圖得到反射和膜厚的光學特性，多種可選擇模式滿足不同的膜厚和光學需求。

ThinFilmCompanion系統特性

實時光譜捕捉和儀器控制（反射和透射測試）

內置大量材料數據

支持多層，單層，粗，厚膜和薄膜結構測試

新材料數據可以輕松添加

實際測試和文件導入

支持復合物材料測試

TF軟件

采用用戶友好界面軟件可以快速測試膜厚和光學常數（n和k值），是復雜的測試變得簡單化。這個軟件內部包含大量 的材料數據資料，使得的測試范圍更廣，多層膜，單層膜，粗糙的，薄膜，厚膜等都可以測試，并且新材料的數據也可以隨時導入到軟件中。

    主要測試過程包含兩部分：數據采集和數據分析。TF系統定義了所有測試過程，并且向用戶開放，同時用戶也可以此 基礎來存儲數據和后續開發。