Dimension ICON 原子力顯微鏡儀器，集成了過去幾十年的研究和技術創新經驗，為納米尺度研究提供優秀的功能、性能和表現。為納米力學、電學、電化學等研究領域的表征工作提供了功能模塊方案，使得對空氣、液體或電化學環境里的材料和納米系統的定量表征更加簡便。

Dimension lcon® AFM 平臺上可提供不同的功能配置，給研究領域提供優秀的技術和性能套裝:

納米力學

通過一系列的力學測量模式，能全面地檢測聚合物分子材料中的微小結構，分辨率能達到亞分子尺度級別

全新的AFM-nDMA™模式下，納米力學性質測量數據與傳統DMA測試和納米壓痕測試結果緊密吻合

測試范圍包括了從軟、粘的凝膠和復合材料到堅硬的金屬和陶瓷材料，提供納米尺度的定量表征

納米電學

一套集成了一系列的AFM電學測量技術的系統

全新的DataCube模式，得到圖像上每個像素點的電學譜線信息，并關聯同步力學性質表征

一次測量得到傳統AFM模式無法得到的完備電學信息

納米電化學

基于AFM平臺的電化學(EC-AFM)和納米掃描電化學顯微鏡(AFM-SECM)模式可靠地表征材料電化學性質

掃描電化學顯微鏡空間分辨率可達<100 nm 級別

同步測量材料的電化學、電學和力學性質

高空間分辨率下的完備表面表征

采用大樣品臺的Dimension lcon AFM幫助提升了原子力顯微鏡技術和材料科學領域的發展，在世界范圍內已有超過干篇的科研文獻發表。在此平臺上集成了30多年來原子力顯微鏡的技術，為納米力學、電學、電化學研究提供了特制的表征技術。您會從中獲得商用AFM設備的高性能表現，新技術進展，優異的測量重復性和操作簡便性。

Dimension lcon 是世界范圍內廣泛采用的大樣品臺AFM設備，擁有業界的可擴展性、的性能表現和測量效率:

同一個AFM平臺上的多種關聯測量技術和模式適用多種樣品尺寸或多個樣品，的可擴展性。

的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平一樣的低噪音水平，且具有的掃描分辨率。

智能成像極大地簡化了參數調整的復雜性。利用探針和樣品之間的峰值力做反饋，采用2kHz的頻率在樣品表面做力曲線，探針和樣品間的相互作用力可達10pN，能對很黏很軟的樣品實現高分辨成像，同時直接得到納米尺度的定量力學信息。

測試性能和可重復性，的熱漂移水平，熱漂移低于200pm/分鐘，真正獲得無扭曲圖像。

快速掃描和自動化模式可將大量測試集成在預設模式下，達到的測試效率。掃描速度可達91HZ。

XYZ閉環掃描器的新設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率。

既有振幅調制又有頻率調制的峰值力開爾文探針顯微鏡，可測量高達100V的電勢差，同時還可測是樣品的模量和粘附力力學信息。

多維1-V曲線測量，寬電流測試范圍，電流測量范圍從100fA至1uA。

全套的定量納米力學測量功能，使得用戶可以完整地表征樣品各種力學性能，包括流變學特性。

全套的納米電學測量功能，使得用戶可以完整地表征樣品的導電性、功函數、介電特性以及帶電狀態。

全套的納米電化學測量功能，使得用戶在新能源、催化、腐蝕等方面具有全新的解決方案。