WX-5505功率半導體器件動態可靠性HTRB/DHTRB測試系統 現代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關晶體管速度越來越快，使得 測量和表征成為相當大的挑戰。 與 HTRB高溫偏置試驗一一對應，AQG 324 該規定了動態偏置試驗，即動態高溫反偏（DHRB，Dynamic high- temperature reverse bias）。 WX-5505測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化， 通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護。該系統集 成度高、應用覆蓋面廣，系統采用軟、硬件一體化設計且功能豐富，在 保證系統穩定運行的同時，可以快速滿足功率半導體可靠性測試需求。 參考標準 AQG 324 機動車輛電力電子轉換器單元用功率模塊的驗證 AEC Q101車用分立半導體元器件的基于失效機理的應力測試驗證 特點 WX-5505系統包含： 硬件平臺+實時軟件，其中硬件平臺包 含： 多通道 高壓脈沖電源、電加熱測試夾具、WX3000恒流源、FTP 寬范圍高壓電源、測量采集控制模塊等， 主要特點如下: 高壓高頻高精度脈沖源：dv/dt>50v/ns、頻率50KHz； 高精度測試，電流分辨率10pA，電壓分辨率100nV； 支持多參數測量：Vsd電壓、Vgsth電壓、Rds電阻、Igss漏電 流、Idss漏電流、溫度； 具備數據管理功能，上位機可實現數據曲線、報告及自動保存； 高效率80通道測試、 每個通道獨立控制，故障斷開及時，互不影響； 保護功能：具備器件防呆，對于帶電、高溫開箱、測試參數異常、驅 動電路異常可實現保護功能， 具備測試夾具具電子化管理功能， 集成電加熱功能測試夾具； 內部模塊化設計，以及自我檢驗功能，可靠度高； 支持支持擴展外接標準儀表，客制化；