XRF-K5貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬成分檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于黃金回收、珠寶首飾工廠、展廳和銀行等行業和單位。該產品自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏及采用美國進口定制Si-PIN探測器，內置I3雙核CPU工控電腦，采用45度角光路以及全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比。

貴金屬檢測儀XRF-K5產品特點

元素檢測范圍：鉀K(9)～鈾U(No.92)          

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.010%～99.999%

檢測精度：±0.03%(999金)

檢測樣品：貴金屬合金/液體

定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集

支持多點連續測試，測試效率高

軟件界面簡潔明了，支持多種自定義報告

貴金屬檢測儀XRF-K5核心部件

探測器：AMETEK定制版Si-PIN探測器

       探測器面積：6mm2

       分辨率：145±5eV

內置工控電腦：Intel i3雙核電腦+win11系統

高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

      窗口材料：玻璃窗

       靶材：鎢

       焦點：? 0.5mm

準直器：?2.0mm

貴金屬檢測儀XRF-K5規格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產品包裝尺寸：566mmx531mmx560mm  

產品尺寸：420mmx350mmx300mm

樣品艙尺寸：297mmx294mmx80mm

額定功率：150W

毛重：51KG（包含UPS） 

凈重：32KG

噪音：<50dB

使用環境：

       溫度：15℃～31℃

       濕度：<70%（不結露）