SPECTRO MIDEXx射線熒光光譜采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測系統，集準直、聚焦、樣品激發于一體，是功能強大的金屬分析儀，SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點X射線熒光光譜儀不僅僅適用于珠寶行業、貴金屬檢驗機構，海關商檢、造幣工業等，還可完成其它分析任務如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。
特點：
1、電制冷的 SDD 檢測器不需液氮制冷。
2、超大樣品內倉（475*460*280 mm）可以放超大或者超小的樣品，對樣品的形狀沒有任何要求。
3、采用上照式光管設計（X 光管的光束是從上往下照射樣品的），光斑電腦控制，通過攝像頭可在電腦上輕松去選定測試樣品上的某個點（這個優點對于不規則樣品來講是*有優勢的）；同時上照式的光管可以避免在測液體樣品時發生泄漏而損壞X 光管的問題。
4、攝像頭 20 倍變焦放大；激光束定位，彌補了攝像系統可能的位置偏差。
5、符合 ISO9001, CE… 德國X 射線安全使用標準
6、不僅可對樣品的微小區域所存在的元素進行快速無損的分析鑒定，還可對超大樣品的表面（面積可達EC 標準線路板規格的2 倍，233*160mm），進行元素分析。
7、SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務而專門研制開發的微區分析儀器，靈敏度高，無破壞性，適合多種行業及研究領域。
8、分辨率：160ev , 計數率：250000cps（目前計數率）。
9、軟件驅動的狹縫交換器，分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇，小焦點聚焦方式，能量無損失，定位更加精準，可以測試到細小的焊端，引腳和BGA 焊球。
10、儀器拓展性：用戶可自己建立曲線，建立測試方法，擴展性較好，可以使儀器十年都保持，軟件升級。
11、快速測定：可設定精度，自動控制測試時間測試，測試時間*短。
檢測器
- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα線，在測量計數率為
10，000脈沖計數時， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微處理器控制的檢測器和讀出電路
- 脈沖計數率可達250，000 cps
SPECTRO MIDEX能量色散小焦點X射線熒光光譜儀光譜儀數據
- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光譜儀能耗：200W
- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm
580670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸寬x 深:500550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據不同配置
分析
- 用于合金元素分析的本參數程序FP +
- 塑料及復合材料的RoHS指令檢測
環境條件
周圍環境溫度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可達到標定儀器性能
- 在 25°C (77°F)下相對濕度: 10-80 %，無冷凝，無蒸氣腐蝕，防塵
