(1) 智能化校準(zhǔn)：儀器具有多種校正模式(數(shù)學(xué)模型)方法，在定量分析中可自動(dòng)應(yīng)用， 以取得*佳的分析結(jié)果；儀器具有ICAL（智能標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)）功能；同時(shí)在分析間歇中會(huì)自動(dòng)監(jiān)測儀器溫度的變化，并校正因此帶來的信號(hào)的漂移。
(2) 全面快速的分析范圍：一次同時(shí)分析Mg~Th的41個(gè)元素只需2s，做各種鋁合金、 鎂合金的材料分選分析只需10s。
(3) 簡潔可靠的儀器結(jié)構(gòu)：在空氣中即可分析Al、Mg、Si、P等輕元素，不需要氦氣 吹掃或抽真空等復(fù)雜裝置.
(4) *佳的激發(fā)效果：采用復(fù)合濾光片(多金屬復(fù)合材料)設(shè)計(jì), 簡化分析操作, 減少了X 光的損失，形成對(duì)于特定元素的*佳信號(hào)接受，同時(shí)保證對(duì)元素周期表中Mg–Th的所有元素均有*佳的激發(fā)效果。
(5) 可靠保護(hù)操作人員：儀器打開快門前，自動(dòng)檢測是否有X射線泄漏，如未檢測到樣品，快門將于200毫秒的時(shí)間內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉，關(guān)閉快門的同時(shí)儀器自動(dòng)切斷X射線，是真正意義上的安全的快速無損現(xiàn)場檢測設(shè)備。
(6) 更逼真的未知樣檢測：儀器可選擇配置FP快速定性, 半定量(定量)程序。可對(duì)任 何未知的樣品進(jìn)行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比，F(xiàn)P更為接近(符合)實(shí)際，在此程序中采用了數(shù)千種標(biāo)準(zhǔn)樣品，實(shí)測結(jié)果并予以固化。
(7) 分析效率高：復(fù)合濾光片顯著減少更換濾波片造成的分析時(shí)間的浪費(fèi)（縮短5 倍時(shí)間），減少操作人員接受輻照的時(shí)間，有助于減少X射線對(duì)操作人員的傷害, 同時(shí)大大提高分析多種元素的效率。
(8) 的檢測器，精度高并可檢低含量：第四代電制冷硅漂移檢測器（Peltier Sillicon Draft Detector，簡寫：PSDD），計(jì)數(shù)率高達(dá)250,000cps，可有效防止計(jì)數(shù)溢出造成的漏計(jì)數(shù)。Mn-Ka譜線線分辨率好于170eV，信號(hào)靈敏度是其他手持式儀器檢測器的10倍。
(7) 分析效率高：復(fù)合濾光片顯著減少更換濾波片造成的分析時(shí)間的浪費(fèi)（縮短5 倍時(shí)間），減少操作人員接受輻照的時(shí)間，有助于減少X射線對(duì)操作人員的傷害, 同時(shí)大大提高分析多種元素的效率。
(8) 的檢測器，精度高并可檢低含量：第四代電制冷硅漂移檢測器（Peltier Sillicon Draft Detector，簡寫：PSDD），計(jì)數(shù)率高達(dá)250,000cps，可有效防止計(jì)數(shù)溢出造成的漏計(jì)數(shù)。Mn-Ka譜線線分辨率好于170eV，信號(hào)靈敏度是其他手持式儀器檢測器的10倍。
