納米粒度分析儀 NANOTRAC WAVE系列
- 180° 反向散射 DLS 設置
- 穩(wěn)定的固定光學樣品接口——無需調(diào)整
- 快速磁場反轉(zhuǎn)可防止電滲
- 作為功率譜比函數(shù)的穩(wěn)健遷移率計算
- 高濃度zeta電位測量
- 樣品濃度和分子量測定
- 通用溶劑兼容性
- 頻率功率譜計算模型代替PCS
- 激光放大檢測-高信噪比
膠體系統(tǒng)的精確測量所有Nanotrac Wave II系列分析儀均使用相同的新型探針技術進行DLS測量。利用我們的激光放大檢測方法，為所有類型的材料提供可重復和穩(wěn)定的粒度測量。 Nanotrac Wave II系列還可以通過使用功率譜和產(chǎn)生的負載指數(shù)來計算樣品濃度。根據(jù)分布計算，濃度將以適當?shù)膯挝伙@示，如cm3/ml或N/ml。也可以通過流體動力學半徑或德拜圖計算分子量。 Nanotrac Wave II顆粒分析儀具有多個不同尺寸的可重復使用樣品池。有一個標準的和微型的特氟隆電池，用于各種材料。對于較難清潔的樣品，有標準體積的不銹鋼電池和大體積的不銹鋼電池。 Nanotrac Wave II Q粒子分析儀還具有多種標準反應杯尺寸，以適應多種不同類型的材料。有聚苯乙烯、玻璃和不銹鋼制成的反應杯，尺寸從50µl到3 ml不等。 Nanotrac Wave II Zeta粒子分析儀有一個特殊的可重復使用的Zeta電池，帶有一個用于運行Zeta電位測量的電極。Wave II所列的樣本單元也與zeta模型兼容。
納米顆粒和ZETA電位分析的理想選擇
NANOTRAC WAVE II粒度分析儀中的zeta電位測量采用了與測量納米粒度分布相同的頻率功率譜方法。同樣穩(wěn)定的光學樣品接口意味著無需調(diào)整。在測量粒徑時，收集反向散射和激光放大的檢測信號，應用電場的快速排序可防止電滲。光學探針表面被涂覆以提供與樣品的電接觸。使用兩個探針，一個用于確定滑動面上粒子電荷的極性，另一個用于測量粒子在電場中的遷移率。極性是在脈沖電場中測量的，而遷移率是在高頻正弦波電場激勵下測量的。zeta電池的兩側(cè)有兩個探測探針，用于探測極性和遷移率。 根據(jù)線性頻率功率譜分布（PSD），可以計算與顆粒濃度成正比的負載指數(shù)（LI）。負載指數(shù)值為總散射提供了一個單一數(shù)字，可用于確定微粒的遷移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒極性（正負）。 測量遷移率和zeta電位首先測量PSD，并在激發(fā)關閉的情況下確定LI。然后在高頻正弦波打開的情況下測量PSD，并取一個比率。通過測量脈沖直流激勵前后的LI來確定極性。對于帶正電的探針表面，激發(fā)后的LI除以激發(fā)前的LI的比值小于1表示正極性（濃度降低），大于1表示負極性（濃度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta電位∝ 流動性
典型應用
多功能性是動態(tài)光散射 (DLS) 的一大優(yōu)勢，這使得該方法適用于研究和工業(yè)中的各種應用，例如藥物、膠體、微乳液、聚合物、工業(yè)礦物、油墨等等。
- 藥品
- 油墨
- life sciences
- 陶瓷
- 飲料 & 食物
- 膠體
- 聚合物
- microemulsions
- 化學品
- 化學試劑
- 環(huán)境
- 粘合劑
- 金屬
- 工業(yè)礦物
... 還有更多
技術參數(shù)
| 計算方法 | 背散射激光放大散射參考方法 |
| 計算模型 | FFT功率譜 |
| 測量角度 | 180° |
| 測量范圍 | 0.3 nm - 10 µm |
| 樣品池 | NANOTRAC WAVE II：各種樣品池選項 NANOTRAC WAVE II Q：各種比色皿 |
| Zeta電位分析 | 是 |
| Zeta測量范圍（電位） | -200 mV - +200 mV |
| Zeta測量范圍（尺寸） | 10 nm - 20 µm |
| 電泳流動性 | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| 電導率測量 | 是 |
| 電導率范圍 | 0 - 10 mS / cm |
| 分子量測量 | 是 |
| 分子量范圍 | <300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| 溫度范圍 | +4°C - +90°C |
| 溫度精度 | ± 0.1°C |
| 溫度控制 | 是 |
| 溫度控制范圍 | +4°C - +90°C（樣品池） +4°C - +70°C（PE比色皿） +4°C - +90°C（玻璃比色皿）。 |
| 滴定法 | 是 |
| 可重復性（尺寸） | =< 1 |
| 可重復性（Zeta） | + / - 3% |
| 樣品體積大小測量 | 50 µl - 3 ml |
| 樣品體積Zeta測量 | 150 µl - 2 ml |
| 濃度測量 | 是 |
| 樣品濃度 | 高達40％（取決于樣品） |
| 載體流體 | 水、極性和非極性有機溶劑、酸和堿（與WAVE II Q的比色皿不同）。 |
| 激光器 | 780納米，3毫瓦；2個帶澤塔的激光二極管 |
| 濕度 | 90 %不凝結(jié) |
| 設備尺寸（寬x高x深） | 355 x 381 x 330 mm |
作用原理
納米顆粒尺寸分析儀NanoRAC WAVE II、WAVE II Q和WAVE ZETA的光學工作臺是一個包含光纖和Y型分離器的探頭。激光聚焦在探頭窗口和色散界面處的樣品體積上。高反射率藍寶石窗口將一部分激光束反射回光電二極管檢測器。激光也穿透色散，粒子的散射光以180度的角度反射回同一探測器。 來自樣品的散射光相對于反射的激光束具有較低的光信號。反射的激光束與來自樣品的散射光混合，將激光束的高振幅與原始散射信號的低振幅相加。這種激光放大檢測方法的信噪比是光子相關光譜（PCS）和納米跟蹤（NT）等其他DLS方法的106倍。 激光放大檢測信號的快速傅里葉變換（FFT）產(chǎn)生線性頻率功率譜，然后將其轉(zhuǎn)換為對數(shù)空間，并進行反褶積以給出最終的粒度分布。與激光放大檢測相結(jié)合，該頻率功率譜計算提供了所有類型的粒徑分布（窄、寬、單峰或多峰）的穩(wěn)健計算，無需像PCS那樣的先驗信息進行算法擬合。 Microtrac顆粒分析儀中使用的激光放大檢測方法不受樣品中污染物引起的信號畸變的影響。經(jīng)典的PCS儀器需要對樣品進行濾波或創(chuàng)建復雜的測量方法來消除這些信號畸變。
1、檢測器；2、激光；3、反射激光；4、懸浮顆粒；5、在探針和流體的界面上開發(fā)了控制參考
1. 預估尺寸分布 | 2. 計算預估的粒徑 | 3. 計算粒度誤差| 4. 正確預估分布| 5.重復1-4直到誤差最小| 6. 最小誤差分布擬合
納米顆粒尺寸分析儀NanoRAC WAVE II、WAVE II Q和WAVE ZETA的光學工作臺是一個包含光纖和Y型分離器的探頭。激光聚焦在探頭窗口和色散界面處的樣品體積上。高反射率藍寶石窗口將一部分激光束反射回光電二極管檢測器。激光也穿透色散，粒子的散射光以180度的角度反射回同一探測器。 來自樣品的散射光相對于反射的激光束具有較低的光信號。反射的激光束與來自樣品的散射光混合，將激光束的高振幅與原始散射信號的低振幅相加。這種激光放大檢測方法的信噪比是光子相關光譜（PCS）和納米跟蹤（NT）等其他DLS方法的106倍。 激光放大檢測信號的快速傅里葉變換（FFT）產(chǎn)生線性頻率功率譜，然后將其轉(zhuǎn)換為對數(shù)空間，并進行反褶積以給出最終的粒度分布。與激光放大檢測相結(jié)合，該頻率功率譜計算提供了所有類型的粒徑分布（窄、寬、單峰或多峰）的穩(wěn)健計算，無需像PCS那樣的先驗信息進行算法擬合。 Microtrac顆粒分析儀中使用的激光放大檢測方法不受樣品中污染物引起的信號畸變的影響。經(jīng)典的PCS儀器需要對樣品進行濾波或創(chuàng)建復雜的測量方法來消除這些信號畸變。
1、檢測器；2、激光；3、反射激光；4、懸浮顆粒；5、在探針和流體的界面上開發(fā)了控制參考
從功率譜迭代粒度計算
1. 預估尺寸分布 | 2. 計算預估的粒徑 | 3. 計算粒度誤差| 4. 正確預估分布| 5.重復1-4直到誤差最小| 6. 最小誤差分布擬合
