ZK-CLJ-D型激光塵埃粒子計數器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJF1190-2008檢定規程的要求,整機功能采用美國微電腦控制處理技術及國際上的SMT芯片貼片封裝技術和優質傳感器及氣泵,可直接打印檢測結果。設備一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數,并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況,對于研究、檢測和評價各種潔凈環境都十分方便。
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