MProbe Vis-Thin 薄膜測量系統是一款結構緊湊、功能多樣的臺式系統。它可以測量不同基底上 10nm - 150µm 厚度范圍內的半透明薄膜。而且，它經濟實惠，使用方便。MProbe Vis(X) 的生產版本可承受振動，并可通過局域網連接24小時運行。它可用于在線和 OEM 應用。它與無塵室環境兼容。MProbe20 VisX 系統是 MProbe20 Vis 系統的一個版本，在更長波長（> 700 nm）下的靈敏度有所提高。
靈活性高
500 多種擴展材料數據庫
可以處理復雜的應用，沒有層數限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗淡度等。
集成：輕松集成 TCP 服務器
經濟實惠，性價比高
| MProbe20 | 波長范圍 | 厚度測量范圍 |
| VIS | 400m-1000nm | 10nm–150μm |
| UVVIS | 200m-1100nm | 1nm-75μm |
| VIS-HR | 700m-1100nm | 1um-400um |
| NIR | 900m-1700nm | 50nm–150μm |
| VisNIR | 380m-1700nm | 50nm-250μm |
| UVVisF | 200m-1000nm | 1nm-20μm |
| UVVISNIR | 200m-1700nm | 1nm-75μm |
| NIRHR | 1500m-1550nm | 10μm-1800μm (glass) 4μm-400μm (Si) |
主機（包括光譜儀、光源）
SH200A 樣品臺，帶聚焦鏡頭和微調裝置
光纖反射探頭
TFCompanion -RA 軟件、USB許可證密鑰、包含軟件發布、用戶指南和其他材料的 USB 記憶棒
USB / LAN 電纜
24VDC 電源適配器（110/220V）
產地：美國
厚度范圍： 10 nm - 150 μm
波長范圍： 400nm -1000nm（典型校準范圍：380-1050nm），VisX 為 450nm -1050nm
波長分辨率： < 小于 1 nm，狹縫為 20 微米（整個光譜均勻一致）
連接： USB / 1 GbE LAN
數據采集速率：1.5kHz（Max）
測量時間：10秒（Min）
精度：<0.01nm 或 0.02%（在 200nm 氧化物上進行 100 次測量的 s.d.）。
準確度：<1nm 或 0.2%（取決于薄膜疊層）
穩定性：< 0.02nm 或 0.2%（每天測量 20 天）
光斑尺寸：< 1 mm
樣品尺寸：>= 10 mm
光源：5W TH 燈，10000 小時壽命（可選：20W TH 燈，2000 小時壽命）
可快速可靠地測量大多數半透明或輕吸收薄膜： 氧化物、氮化物、光刻膠、聚合物、半導體（硅、砷化鎵、aSi、聚硅等）、硬涂層（SiC、DLC、AlN）、聚合物涂層（Paralene、PMMA、聚酰胺）、ITO、電池間隙、氧化鋁、薄金屬膜（<50 納米）等。
