X射線衍射儀AL-Y3500A
AL-Y3500A衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設計的,是常規(guī)分析與特殊目的測量相結合的完善產(chǎn)品。
硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的結合,滿足不同應用領域學者、科研者的需要。
高精度的衍射角度測量系統(tǒng),獲取更準確的測量結果
高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復測量精度
各種功能附件滿足不同測試目的需要
程序化操作、一體化結構設計,操作簡便、儀器外型更美觀
X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器:
未知樣品中一種和多種物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結構解析(Rietveld結構分析)
非常規(guī)條件下晶體結構變化(高溫、低溫條件下)
薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
微區(qū)樣品的分析
金屬材料織構、應力分析