儀器照片 | |
儀器名稱 | X射線衍射儀 |
儀器型號 | SmartLab 3KW |
生產(chǎn)廠家 | 日本理學(xué) |
儀器簡介 | 高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,一維陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅提高設(shè)備的使用效率, 而且提高了設(shè)備的探測靈敏度。 |
技術(shù)參數(shù) | 測量精度:±0.0001°; 測角儀半徑≥200 mm; 步長大于0.0001°; 角度范圍(2θ):-110~168°; 輸出:小于3 KW; 穩(wěn)定性:±0.01%; 管電壓:20~60 kV(1kV/1step); 管電流:10~60 mA。 |
儀器功能 | X射線衍射儀可以對樣品進(jìn)行物相定性和部分樣品的定量分析,可以測定精確的晶胞參數(shù)、簡單晶體的晶體結(jié)構(gòu)、樣品的結(jié)晶度、微晶的粒度。利用相應(yīng)附件可以測定納米粒度、薄膜厚度;可以進(jìn)行斑點(diǎn)等小區(qū)域樣品進(jìn)行分析; |
在線測試系統(tǒng) | |
物相分析檢測案例 | |
樣品要求 | 粉末:樣品須干燥處理,粒度小于300目,質(zhì)量不少于0.1g; 塊體: 需加工出一平整的表面,尺寸約為20mm×20mm×2mm。 |