產品詳細介紹：
CS電化學工作站采用全浮地式設計，具有出色的穩(wěn)定性和精確度，*的硬件和功能完善的軟件，為涉及能源、材料、生命科學、環(huán)保等領域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。具體應用于：
(1)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應機理研究;
(2)電化學分析研究，包括：氧還原研究(ORR)、氧析出研究(OER)、氫析出(HER)、CO2還原等。
(3)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、*功能材料以及傳感器的性能研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉換器
● 內置FRA頻響分析儀，頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍：±10V，槽壓為±21V(可擴展至±200V)
● 電流控制范圍：±2.0A(可擴展至20A)
● 電位分辨率：10μV，電流分辨率：1pA(可延伸至100fA)
軟件特點
① 數據分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算，計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等;
極化曲線的三參數或四參數動力學解析，計算Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，極限擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等，還可由電化學噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
CS Studio軟件實時存儲測量數據，即使因斷電導致測試中斷，中斷之前的數據也會自動保存。
③ 定時測量
CS Studio測試軟件具有定時測量功能， 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時，可提前設好測試參數與間隔時間，讓儀器在無人值守下自動定時測量，為實驗提供方便。
技術優(yōu)勢
① 交流阻抗
儀器采用相關積分算法和雙通道同步過采樣技術，具有較強的抗力，尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系(>109Ω)的交流阻抗測量，也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實時顯示開路電位，用戶無需輸入，即可輸出準確的極化過電位。
② 極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能，用戶可設定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流(鈍化膜擊穿電流)，來確定材料的點蝕電位和保護電位，評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線，可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
6063鋁合金在含Ce3+的3% NaCl溶液中的EIS 鈦基非晶態(tài)合金和不銹鋼在3%NaCl溶液中的動電位極化曲線，掃描速率為1mV/s
③ 伏安分析
能完成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、階梯伏安(SCV)、方波伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)、交流伏安(ACV)、溶出伏安等多種電分析方法，集成峰面積、峰電流計算和標準曲線分析功能
聚吡咯超級電容器在0.5 mol/L H2SO4溶液中的CV曲線 鉑電極在3 mmol/L K4[Fe(CN)6]+ 0.4 mol/L KCl溶液中的CV 曲線(100mV/s)
④ 電化學噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動，可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應力腐蝕開裂等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析，可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導、生長和死亡過程。基于噪聲電阻和點蝕指數計算，也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
⑤ 功率擴展
CS系列電化學工作站的電流控制范圍為±2.0A，槽壓輸出≥21V，可滿足燃料動力電池、大功率電池充放電、電化學電解或電沉積等領域的需求。采用專用的功率擴展器，輸出電流可達20A，槽壓±200V。
⑥ 全浮地測量
CS系列電化學工作站采用全浮地式工作電極，可用于工作電極本身接地體系的電化學研究，如用于高壓釜電化學測試(釜體接地)，大地中金屬構件(橋梁、混凝土鋼筋)的在線腐蝕研究等。
⑦ 光電測試模塊
CS電化學工作站可以與光強計、分光光度計聯用，用于光電化學測量，在進行電化學測量的同時記錄光電流或光譜響應信號。
⑧ 自定義方法
支持用戶自定義組合測量，用戶可以設定定時循環(huán)進行某一測試方法或多種方法的組合測試，用于無人值守下的定時自動測量;
提供API通用接口函數和開發(fā)實例，方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法;
提供用戶自定義腳本編寫范例，用于實現您的電化學實驗技術。
技術參數：
硬件參數指標
| 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數 |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 輸出電流：2.0A |
| 槽壓輸出：±21V （可擴展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的最小電位增量：0.075mV |
| AD數據采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程：自動設置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
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電化學阻抗測量指標
| 信號發(fā)生器 | |
| 頻率響應：10μHz～1MHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
| 頻率精確度：0.005% | 信號分辨率：0.1mV RMS |
| DDS輸出阻抗：50Ω | 直流偏壓：-10V～+10V |
| 正弦波失真率：<1% | 波形：正弦波，三角波，方波 |
| 掃描方式：對數/線性，增加/下降 |
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| 信號分析器 | |
| 積分時間：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| 最小積分時間：10mS 或者一個循環(huán)的最長時間 |
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| 直流偏置補償 | |
| 電位補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調整：自動或手動設置, 共8級可調 |
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配置
1)儀器主機1臺
2)CS Studio測試與分析軟件1套
3)專用電解池(含鹽橋和排氣管)1套
4)輔助、參比、工作電極各1支
5)模擬電解池1個
6)電源線/USB數據線各1條
7)電極電纜線1條
8)電極架(選配*)
9)屏蔽箱(選配*)
10)電腦(選配*)
功能方法：
CS單通道系列不同型號功能方法比較
| 功能方法 | CS120H | CS150H | CS300H | CS310H | CS350H | |
| 穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位測量(OCP) | ● | ● | ● | ● | ● |
| 恒電位極化(i-t曲線) | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流極化 |
| ● | ● | ● | ● | |
| 動電位掃描(TAFEL曲線) | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 動電流掃描(DGP) |
| ● | ● | ● | ● | |
| 暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● | ● | ● |
| 任意恒電流階梯波 |
| ● | ● | ● | ● | |
| 恒電位階躍(VSTEP) | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 恒電流階躍(ISTEP) |
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| 計時分析 | 計時電位法(CP) |
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| ● | ● | ● |
| 計時電流法(CA) |
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| ● | ● | ● | |
| 計時電量法(CC) |
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| 伏安分析 | 線性掃描伏安法(LSV)# | ● | ● | ● | ● | ● |
| 線性循環(huán)伏安法(CV) | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 階梯循環(huán)伏安法(SCV)# |
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| ● |
| ● | |
| 方波伏安法(SWV)# |
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| ● |
| ● | |
| 差分脈沖伏安法(DPV)# |
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| ● |
| ● | |
| 常規(guī)脈沖伏安法(NPV)# |
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| ● |
| ● | |
| 常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)# |
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| ● | |
| 差分脈沖電流檢測法(DPA) |
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| 雙差分脈沖電流檢測法(DDPA) |
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| 三脈沖電流檢測法(TPA) |
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| 積分脈沖電流檢測法(IPAD) |
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| 交流伏安法(ACV)# |
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| 二次諧波交流伏安(SHACV) |
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| 傅立葉變換交流伏安(FTACV) |
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| 交流阻抗 | 電化學阻抗(EIS)～頻率掃描 |
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| 電化學阻抗(EIS)～時間掃描 |
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| ● | ● | |
| 電化學阻抗(EIS)～電位掃描 |
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| 腐蝕測量 | 循環(huán)極化曲線(CPP) | ● | ● | ● | ● | ● |
| 線性極化曲線(LPR) | ● | ● | ● | ● | ● | |
| 動電位再活化法(EPR) |
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| 電化學噪聲(EN) |
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| 電偶腐蝕測量(ZRA) |
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| 氫擴散測試(HDT)* |
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| 電池測量 | 電池充放電測試 |
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| 恒電流充放電 |
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| 光電測量 | 電致調光測量 * |
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| 光譜儀測量 * |
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| 擴展測量 | 盤環(huán)電極測試 * |
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| 數字記錄儀 | ● | ● | ● | ● | ● | |
