RIGAKU X射線衍射儀
RIGAKU理學公司自1951年成立以來，一直站在研究分析和工業儀器技術的。當今伴隨著數百個重大創新，RIGAKU公司在以下領域成為世界的。其中包括一般X射線衍射儀（XRD），薄膜分析儀（XRF、XRD及XRR），X射線熒光光譜儀（TXRF、EDXRF及WDXRF），小角度X射線散射儀（SAXS），蛋白質和小分子X射線晶體儀，拉曼光譜儀，X射線光學器件，半導體計量儀（TXRF、XRF、XRD及XRR），實驗室自動化，X射線源儀，計算機體層攝影儀，非破壞性檢查儀以及熱分析儀。
RIGAKU對X射線及其補充技術深層理解，RIGAKU真正的力量是與客戶共同合作的意愿。 通過推進科學和工業領域的合作關系、對話和創新，理學經過不懈努力向客戶提供集成的分析解決方法。
RIGAKU員工致力于開發支持大學院校、工業和政府實驗室，與最終客戶為中心的集成解決方案的各種不同的學科，提供廣泛學科的以客戶為中心的集成分析解決方法，包括結構蛋白質組學、超微工程研究、 一般用途的 x 射線衍射（XRD）和光譜學（XRF）、材料分析和品質管理。
無論為創造更好的半導體芯片提供工具，實現藥物開發，改善生產線品質或探索前沿的納米技術，理學都將提供創新的產品和服務。
RIGAKU員工總數超過1100人，分布在日本、美國、歐洲和中國。理學尊重每一名員工。理學的價值來源于所有員工。RIGAKU的客戶與員工之間的親密合作關系設定RIGAKU工作的方向和重點，使RIGAKU滿足客戶需求并且靠近市場 。
產品描述：
RIGAKU X射線衍射儀（XRD）
MiniFlex、用于物相分析和晶相的定量分析等常規目的的新型第5代臺式XRD儀器
Ultima IV、用于應用程序從研發到質量管理的高性能多功能的XRD儀器
SmartLab、通過系統指導軟件（Guidance）運行的銳的高分辨率XRD儀器
TTRAX III、強θ/θ高分辨率X射線衍射儀，特點為面內衍射機械臂
RAPID II、彎曲成像板（IP）XRD儀器，特點為極大孔徑和旋轉陽極或密封型X射線管線源（二選一）
DualSource RAPID II、雙源曲面成像板系統，包括密封管和鉬標準密封的管銅微焦點
RIGAKU應力分析儀
MSF/PSF-3M、非破壞性的殘余應力測試材料，具有可用于任何樣品尺寸的配置
PSPC/MSF、*的XRD應力分析儀，特點為可以高速測量的位置靈敏正比計數器（PSPC）
AutoMATE II、通過并傾法和側傾法對實驗室微小部XRD殘余應力分析
X射線衍射儀（XRD）是用于分析各種問題的重要的非破壞性工具之一，從流體到粉末和晶體。從研究到生產和工程，XRD在材料特點分析和質量控制中是一個的方法。理學公司與學術界用戶、工業用戶合作開發了一系列衍射儀，提供了技術*、靈活性強且性價比高的衍射解決方法。
RIGAKU元素分析產品
X射線熒光技術為大多數材料的元素組成類型的測試提供了一個、最準確且的分析方法。此技術一般為非破壞性，樣品制備程序簡單（如有需要），此外適用于固體、液體、粉末及合金。XRF可以測試廣泛的元素范圍Be（5）～U（92），對許多應用程序提供sub-ppm檢測限制。
RIGAKU X射線熒光（XRF）光譜儀
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F～U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Primini Biofuel、臺式WDXRF為石油產品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油（ULSD）中的硫（S）分析
NANOHUNTER、臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀執行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be～U
Mini-Z 系列、質量控制應用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleu
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F～U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Primini Biofuel臺式WDXRF為石油產品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油（ULSD）中的硫（S）分析
NANOHUNTER、臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀執行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be～U
Mini-Z 系列、質量控制應用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400、適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleum
X射線熒光技術為大多數材料的元素組成類型的測試提供了一個、最準確且的分析方法。此技術一般為非破壞性，樣品制備程序簡單（如有需要），此外適用于固體、液體、粉末及合金。XRF可以測試廣泛的元素范圍Be（5）～U（92），對許多應用程序提供sub-ppm檢測限制。
RIGAKU X射線熒光（XRF）光譜儀
Supermini200、臺式下照射式WDXRF光譜儀分析元素范圍F～U的固體、液體和粉末樣品
NEX QC, NEX QC+、低成本EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus、高功率、下照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Primini Biofuel臺式WDXRF為石油產品中P、S和Cl的sub-ppm檢測限制進行優化
NEX CG、高性能、解析幾何EDXRF元素分析儀測試元素范圍Na~U的固體、液體、粉末和薄膜樣品
ZSX Primus II、高功率、上照射式、具有Mapping分析和超輕元素性能的連續WDXRF光譜儀
Mini-Z Sulfur、ASTM D2622法WDXRF分析儀用于石油燃料和超低硫柴油（ULSD）中的硫（S）分析
NANOHUNTER臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀執行元素分析直到PPB的水平
Simultix 14、高容許功率、下照射式、多道同時WDXRF光譜儀分析元素范圍Be～U
Mini-Z 系列、質量控制應用程序的下照射式WDXRF單個元素分析儀
AZX 400、適用于大型樣品、高功率、下照射式、具有Mapping分析的連續WDXRF光譜儀
ZSX Primus III+、高功率、上照射式、順序WDXRF光譜儀
Micro-Z ULS、Dedicated ultra-low sulfur analyzer for petroleum
RIGAKU 小角X射線散射（SAXS）儀
BioSAXS-2000、小角X射線散射（SAXS）Kratky相機系統
S-MAX3000、小角X射線散射（SAXS）針孔相機系統
Ultima IV、具有SAXS能力的高性能、多功能XRD系統
SmartLab、通過Guidance專家系統軟件支持*的高分辨率XRD/SAXS系統
小角X射線散射（SAXS）是一個小角散射（SAS）技術，通過一個在納米范圍內不均勻性的樣品的X射線彈性散射，被記錄在非常小的角度下（通常為0.1-10°）。該角度范圍包含有關分子形狀和尺寸、半序材料的特征距離、孔隙尺寸以及其它數據的信息。SAXS能夠提供從5-25nm的生物大分子的結構信息，高達150nm的半序系統中重復距離。*
RIGAKU蛋白質晶體學產品
RIGAKU HomeLab系統
HighFlux HomeLab、大功率生物大分子晶體X射線衍射系統
Ultimate HomeLab、功率生物大分子晶體X射線衍射系統
Phasing HomeLab、鉻相位生物大分子X射線晶體系統
Compact HomeLab、基于緊湊微焦點密封管的X射線晶體系統
Protein Structure Workbench、結晶化篩選HomeLab™ 系統
X-ray sources and optics
FR-X、高強度微焦點旋轉陽極X射線發生器
MicroMax-007 HF、微焦點旋轉陽極X射線發生器
MicroMax-003、微焦點高強度密封管X射線源
Detectors and SAXS cameras
R-AXIS HTC、高通量、大面積成像板X射線面探測器
R-AXIS IV+、大面積成像板X射線面探測器
PILATUS detectors、用于X射線晶體學的PILATUS混合像素陣列檢測器 (HPAD)
BioSAXS-2000、小角X射線散射（SAXS）Kratky相機系統
S-MAX3000、小角X射線散射（SAXS）針孔相機系統
Optics
VariMax、用于蛋白質晶體的單波長Confocal Max-Flux®（CMF）光學器件
VariMax DW、用于蛋白質晶體的雙波長Confocal Max-Flux®（CMF）光學器件
RIGAKU附件和軟件
RigakuRemote、衍射實驗的實時遠程監
PlateMate、用于結晶板中樣品的衍射篩選的AFC11適配器
ACTOR、自動晶體傳輸定位和檢索機器人 HKL-3000R、數據收集、處理以及結構分析軟件
蛋白質晶體學是一個重要的結構生物學技術，提供生命與疾病相關的蛋白質和其它生物大分子的詳細原子分辨率。理學在提供很多級別的用于提高生產力的儀器方面于世界。 — 從制定結晶化條件、培養晶體到自動安裝晶體和收集高分辨率X射線衍射數據集。請選擇一個感興趣的系統或組件，從而找出理學是如何幫助你研究蛋白質晶體。
RIGAKU其他產品：
RIGAKU拉曼光譜儀FirstGuard™、Xantus™-2、Xantus Mini™
過程分析儀NEX XT、NEX OL
釋放氣體分析儀 (EGA)TG-DTA/MS
非破壞性測試 (NDT)RV-5030B、CR-1012、Radioflex series
小分子晶體RAPID II、DualSource RAPID II、XtaLAB™ P200、XtaLAB™ mini
結晶自動化CrystalMation™、Screen makers、Drop setting、Incubation/imaging、Software、Reagents
半導體計量、WaferX 310、WDA-3650、AZX 400、MFM310、TXRF 3760、TXRF 3800e
半導體計量TXRF-450、TXRF-V450、TXRF-310、TXRF-310e、TXRF-V310、VSEE300
其他
應力分析儀、真空饋通、X射線檢測器、X射線光學、X射線源
RIGAKU公司其他產品型號：
| RIGAKU | 探測器 | 閃爍計數探測器 NO:5762A2 |
| RIGAKU | 電機 | 電機LCZZG-108VB 12VDC35KG.CM RATIO200:1 |
| RIGAKU | 電機 | 電機LCZZG-108VB 12VDC35KG.CM RATIO300:1 |
| RIGAKU | 開關扳 | 開關扳9766-0080H |
| RIGAKU | 傳輸板 | 通訊傳輸板9270-0081H |
| RIGAKU | 警示燈 | X射線警示燈裝置12V 60MA |
| RIGAKU | 燈泡 | 特種燈泡 H-1211 |
| RIGAKU | 密封墊 | 試樣室入口位O型密封墊專用件 |
| RIGAKU | O型圈 | 試樣室入口位上蓋O型圈專用件 |
| RIGAKU | 水壓表 | 水壓表6680-0037DT1/4*50*1MPA |
| RIGAKU | 濾器芯 | GLD-200型真空泵配用真空泵過濾器芯 |
| RIGAKU | 泵 | GLD-200真空泵（包括配用三相電機） |
| RIGAKU | 離子樹脂 | 6680-0025 離子樹脂X熒光光譜分析儀SMX12 |
| RIGAKU | 計數器 | 6411-8200 |
| RIGAKU | 光譜計數器 | 6411-8300 |
| RIGAKU | 計數器 | 6411-8100 |
| RIGAKU | 計數器 | 6411-2400 |
| RIGAKU | 計數器 | 6486-0011 |
| RIGAKU | 后窗 | 6486-0024 |
| RIGAKU | 備件 | 6480-1008SMX12熒光光譜儀皮帶輪 |
| RIGAKU | 備件 | 670-XL-037-U(Timing belt)SMX12光譜儀3199Z007定時皮帶 |
| RIGAKU | 備件 | 6480-0022SMX12熒光光譜儀鋯X射線慮光片 |
| RIGAKU | 內部過濾芯 | LP-100-12-30 |
