霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HEMS
測(cè)量包括:
? 遷移率測(cè)試
? DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs
? AC HEMS: 10cm2/Vs to /Vs
? 載流子濃度測(cè)試
? 電阻率測(cè)試
? 電阻測(cè)量
? 低電阻范圍 1uohm to 1Mohm
? 寬電阻范圍 1uohm to 100Gohm
? 高電阻范圍 1ohm to 100Gohm
? 范德堡法測(cè)試范圍
? 霍爾巴法測(cè)試
磁帽:
? 可更換帽
? 標(biāo)準(zhǔn)25mm
? 在0-130mm間距連續(xù)可調(diào)
? 更大帽直徑可選,50mm,75mm
電磁鐵:
? ±@100mmgapwith25mmpoleface
? ±35V, ±70A電源
? 磁場>±IT@25mmpolegap
? 線圈電阻: ? (20°C)
? 水冷
溫度選項(xiàng):
? 低溫 3K-300K
? 高溫300K-1273K
納米磁學(xué)高斯計(jì):
? 磁場掃描采用集成高斯計(jì)
? 磁場校準(zhǔn)采用霍爾探頭
? 高靈敏度的磁場測(cè)量
? 所有參數(shù)可通過軟件控制
樣品架:
? 4,6 or8范德堡或霍爾巴測(cè)試設(shè)計(jì)
? 易于樣品安裝與彈簧連接
? 5mmx5mm樣品大小(提供更大選件)
? 多個(gè)樣品安裝
控制器和軟件:
? 使用我們軟件可逐層的進(jìn)行遷移率分析
? 基于C# 的全自動(dòng)軟件分析
? 非常寬的溫度測(cè)試范圍,3-1,300K
? 采用高斯計(jì)進(jìn)行磁場的控制
? 非常容易的進(jìn)行范德堡霍爾巴方法樣品測(cè)試
? 提供軟件終生升