ICP光譜儀原理是什么？
ICP光譜儀又稱分析儀，廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫，散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理：
根據現代ICP光譜儀器的工作原理，ICP光譜儀可以分為兩大類：經典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調制原理上的儀器。經典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調制ICP光譜儀是非空間分析的，它采用圓孔進光。根據色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學多道分析儀OMA是近十幾年出現的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。
ICP光譜儀的校正
光學系統校正
在PROFILE儀器中，操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時校正光學系統。如果實驗室環境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結果數據漂移。
光學系統校正使用燈，選擇Hg8線（波長），儀器內部裝有燈，只要按照操作規程操作即可。
等離子體位置校正
等離子體位置校正的目的是將光源對準光學系統。通常在重新裝配進樣系統后，點燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。
在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 波長、Mn溶液能夠正常進入并形成氣溶膠進入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。
ICP光譜儀的來歷
ICP光譜儀在國內的發展也不過幾十年的時間，不可謂短或長。 電感耦合等離子體發射光譜儀（簡稱ICP光譜儀），因為具有高靈敏度，高精密度，低基體效應和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現產品儀器以來，很快在各剖析范疇得到廣泛應用，變成資料、環境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產品檢驗及科研范疇通用的無機元素剖析東西。ICP光譜儀的構造和技能也在不斷的改善和發展。1991年新的中階梯光柵固態檢測器ICP-OES儀器面世，即國內所說的全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀。1993年國外出產的該類儀器進入中國市場，目前國內還沒有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀產業化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環境下運轉，失掉這些條件，不僅儀器的運用效果欠好，并且改動儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數。依據光學儀器的特色，對環境溫度和濕度有必定請求。假如溫度改變太大，光學組件受溫度改變的影響就會發作譜線漂移，形成測定數據不穩定，ICP光譜儀通常室溫請求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度改變應小于±1攝氏度。濕度對高頻發作器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不簡單點著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等，以致損壞高頻發作器。ICP光譜儀通常室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化設備。曩昔因為基建施工，我們的環境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過大，儀器不是定位艱難即是常常發作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運轉就正常多了 以上就是對ICP光譜儀的來歷和一些知識的介紹，希望對大家對認識ICP光譜儀有所幫助。
