賽默飛熱電K-Alpha X射線光電子能譜儀的易操作性，可同時滿足經驗豐富的XPS分析人員和初學者的需求。分析選項包括用于角分辨XPS數據采集的傾斜模塊和用于空氣敏感樣品傳輸的可循環惰性氣體手套箱。
強大的性能
X射線光斑大小連續可調
深度剖析
微聚焦單色器
高分辨率、靈敏度能譜儀
快照采集
絕緣樣品分析
XPI成像
易用性
一鍵式樣品導航和實驗設定
自動樣品傳輸
按需校準
全能譜儀設定
離子槍設定
計算機操作
賽默飛熱電K-Alpha X射線光電子能譜儀軟件
Thermo Scientific Advantage數據系統，包括：
•儀器控制
•數據采集
•數據解析
•數據處理
•報告生成
•數據存檔管理
•審查跟蹤日志
•系統性能日志
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能（B.E）。
