ED400型渦流測厚儀產(chǎn)品詳細介紹
ED400型渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。 ED400型渦流測厚儀適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。 儀器符合國標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:
* ED400型的量程達到0~500μm。
* ED400型的測量精度達到2%。
* ED400型的分辨率達到μm。
*校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
*基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2μm。
*可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性 提高。
*穩(wěn)定性提高 采用*的溫度補償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
ED400型渦流測厚儀技術(shù)參數(shù):
測量范圍: 0~500μm
測量精度: 0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:μm、
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150mm×80mm×30mm
重 量: 260g
標準配置
主機 1臺
探頭 1支
基體 1塊(6063合金)
校正箔片 1片(約50μm,附檢測報告)
使用說明書 1份
合格證 1份
保修單 1份
手提式儀器箱1個
可選附件
備用探頭
基體
校正箔片(約50μm,附檢測報告)