internationallight光測量探測器 照度計 光學探測儀ILT的介紹
internationallight光測量探測器 照度計 光學探測儀ILT的介紹
5.8 mm2 有效面積硅探測器，帶內置過濾器，位于棒式探測器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準。
ILT 檢測器設計用于發射皮安到毫安范圍內的低水平電流，然后在與 ILT 照度計一起使用時轉換為校準光學單位，例如勒克斯、W、W/cm2 等。檢測器組件通常包括傳感器、過濾器、光學器件和校準器
勒克斯校準探測器組件示例：“SED033/Y/W”包括“SED033”33mm2 硅光電二極管探測器、“Y”適光校正濾光片和“W”漫射器以及校準。
SED 和SPM型光學檢測器外殼由黑色陽極氧化鋁制成，帶有過濾器內螺紋 、一個三腳架和兩個端部安裝 。只有這些外殼允許過濾器選擇/交換和水下修改
XSD 型光學探測器的 直徑為 15 x 42 mm。帶有用于安裝的 8-32 螺紋螺紋孔的外殼。5.8 mm2 有源區硅探測器，內置 CIE VIS 響應濾波器，位于棒式探測器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準。5.8 mm2 有效面積硅探測器，帶內置過濾器，位于棒式探測器外殼中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校準。
