詳細內容
PP-TOFMS飛行時間質譜儀PP-TOFMS飛行時間質譜儀
工作原理:
等離子體等離子體分析飛行時間質譜儀是一個全新的儀器,它結合了GD等離子體的濺射速度和飛行時間質譜的靈敏度,實現了高分辨率和高靈敏度條件下固體材料的快速化學深度剖析。
PP-TOFMS飛行時間質譜儀ZD應用域:
摻雜分析(半導體、光電子、太陽能光伏、傳感器、固態光源)
表面和整體污染鑒定(PVD鍍層、摩擦層、)
腐蝕科學和技術(示蹤物、標記監測、同位素分析)
界面監測
PP-TOFMS飛行時間質譜儀參數:
采集速率:每30μs一張全質譜
質量分辨率:選擇高分辨率模式時,在m/z208可達5000
動態范圍:107
質量準確度40ppm
靈敏度:103cps/ppm
深度分辨率:nm
正負離子模式
4個離子的靈活消隱功能
簡單易用的水平樣品裝載
PP-TOFMS飛行時間質譜儀產品特點:
樣品分析快速無預處理:無需超高壓腔
適用于各種材料及鍍層分析
全質量覆蓋:可提供從H到U元素的完整質譜和分子信息,包括同位素監測
3D數據 ,脈沖射頻模式(ZL)
高深度分辨率:測試薄層可至1nm到厚層:厚層可達100μm
無需校準的半定量分析:濺射和電離過程分離,使得基體效應小化