掃描電子顯微鏡為您*苛刻的樣品
有了EVO，你可以比以往任何時候都更好地捕捉和分析圖像。
使用*清探測器技術捕捉*對比度的表面細節的裂縫，復合材料，加工表面和顆粒。
通過EVO 25，您可以在其420毫米的大腔室中查看來自航空航天和汽車工業的大型樣品。
EVO可以提*您在質量控制和失敗方面的生產力
分析。
將自動智能成像用于您的任務，它將迅速提供可重復的結果。
更重要的是，SmartBrowse具有交互式圖像模板，允許您在上下文中顯示示例圖像，并*加快報告的創建。
根據您的需求配置
決議
1.9 nm, 2 nm, 3 nm at 30 kV SE with HD, LaB6, W 4.0 nm at 30 kV BSD (in VP mode)
5 nm, 10 nm, 3 nm在3 kV SE與HD, W
8 nm, 15 nm, 20 nm, 1kv SE與HD, LaB6, W
放大
< 7 - 1,000,000 × / < 5 - 1,000,000 ×
x射線參數
WD 8.5 mm / 35°TOA
壓力范圍
10 - 400 Pa
簡單。更聰明。更多的集成。
?堅固的支架和各種腔室尺寸允許您處理大型、重型或復雜的樣品。
?easyvp讓您無縫切換*真空和
變壓模式。
?用戶友好的圖像導航和樣本類型的選擇，讓您快速捕捉圖像。
?*穩定性和幾何形狀確保了在*真空和變壓力模式下的*元件分析。
?您的系統是面向未來的，可以在任何時候進行擴展。
只需配備新的探測器或擴展壓力或濕模式，當您的應用需求如此需求。
為您的應用程序創建
?分析汽車涂料的厚度、成分和結構。
?確保生產過程的清潔。
對鋼中非金屬夾雜物的成分進行分析。
?對彈殼上的槍擊殘留物和撞針凹痕進行法醫調查。
進行快速和可重復的顆粒分析。
?分析藥物制劑在片劑上的分布
部分。
?查看金屬和合金中由孔隙形成引起的滑移帶、空洞和裂縫。
