T802光相關(guān)納米粒度儀
一、產(chǎn)品簡介
T802光子相關(guān)納米粒度儀是采用動態(tài)光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎(chǔ)之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司研制的高速數(shù)字相關(guān)器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關(guān)函數(shù)（即擴散系數(shù)），根據(jù)Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點，是納米顆粒粒度測試的選擇產(chǎn)品。
二、主要性能特點
*的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結(jié)果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 核心部件采用公司CR256數(shù)字相關(guān)器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關(guān)函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光 散射信息，為測試結(jié)果的準確度奠定基礎(chǔ)；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導體溫控技術(shù)，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結(jié)果準確度及穩(wěn)定性。
三、技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號	T802
執(zhí)行標準	GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍	1-10000nm（與樣品有關(guān)）
濃度范圍	0.1mg/ml­--100mg/ml(與樣品有關(guān))
準確度誤差	<1%（國家標準樣品D50值）
重復性誤差	<1%（國家標準樣品D50值）
激光光源	光纖半導體激光器，λ= 532nm，
探測器	光電倍增管（PMT）
散射角	90o
樣品池體積	4mL
溫控范圍	5-40 ℃（精確到0.1℃）
測試速度	<5 Min
體積	480mm*270mm*170mm
重量	12Kg
數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù)	自相關(guān)通道：256 基線通道：4 最小分辨時間：6ns 延遲時間：100ns-10ms（可調(diào)） 運算速度：162M/S