T2008濕法全量程激光粒度儀|大量程粒度分析儀
發布時間:2020/06/21 點擊量:
一、產品簡介
T2008是一款測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程的智能全自動激光粒度儀。采用了雙光束多頻譜探測系統和超微顆粒測試新技術,極大的提高了儀器測試的精度和性能。代表了國內該領域的*水平。
二、適用范圍
T2008全量程濕法激光粒度儀,廣泛應用于具有高要求的水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉體行業。
三、主要性能特點
全新的測試原理:該款儀器在采用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上,柔和了頻譜放大技術,從而在有限的空間內拓寬了測試范圍;
操作和校準全自動化:使用過程中,只要針對所測樣品的特性設置好測試條件后,分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可自動完成,并得出準確、可靠的測試結果。另外,利用三維對中系統調節光電探測器,在避免人工調試所帶來的繁瑣的同時,對整個光路系統可隨時校準,保證其準確對中,從而對測試結果的準確度和穩定性提供了有力的保障;
有效的分散循環系統:在配有常規的超聲和攪拌分散裝置外,還針對寬分布樣品和比重較大的顆粒,專門配備了大流量循環泵,以防止因大顆粒丟失而導致測試結果不準確的現象。因而,該儀器在不同的粉體行業更具有廣泛適用性;
的測試標準:采用多種微米、亞微米及納米級國家粒度標準物質,對儀器進行全量程校準標定,使其在其整個測量范圍之內得到真實、準確的測試結果。
四、T2008 激光粒度分析儀技術參數:
規格型號 | T2008A | T2008D | |
執行標準 | ISO 13320-1:1999;GB/T19077.1-2008;Q/0100JWN001-2013 | ||
測試范圍 | 0.01-2000μm | 0.01-1200μm | |
探測器通道數 | 127 | 127 | |
準確性誤差 | <1%(國家標準樣品D50值) | ||
重復性誤差 | <1%(國家標準樣品D50值) | ||
激光器參數 | 主激光源:高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>3.0mW 輔助激光源:半導體激光器,λ= 650nm;p>2mW | ||
分散方法 | 超聲 | 頻率:f=40KHz, 功率:p=50W | |
攪拌 | 轉速:0-3000rpm轉速可調 | ||
循環 | 額定流量:30L/min 額定功率:70W | ||
樣品池 | 容量:1000mL | ||
操作模式 | 軟件操作 / 全自動操作模式可切換 | ||
自動對中系統 | 全自動對中系統 | ||
測試速度 | <2min/次 | ||
體積 | 660mm*320mm*400mm | ||
重量 | 65Kg |
1.采用全內置分散系統:使用大功率循環泵,對管路進行優化設計,使整體控制協調性達到水平,有效的防止了大顆粒的二次沉淀。
2.采用精密四項混合式步進電機組成光路自動對中系統,微動精度達到微米級別,使儀器光路始終處于好的狀態。
3.無約束自由擬合技術:無約束自由擬合技術,不受任何函數限制,可真實反映顆粒的分布狀態。
4.光路設計:采用會聚光傅立葉變換技術,使散射光不受透鏡孔徑限制;采用雙譜面光路設計,有效擴大測量范圍至2000微米;雙激光正交光路使用半導體輔助激光器測量側向散射45度至135度,將測量范圍進一步擴展。