W系列光學輪廓測量儀由照明光源系統,光學成像系統,垂直掃描系統以及數據處理系統構成。非接觸高精密測量,不會劃傷甚至破壞工件,器重建算法自動濾除樣品表面噪點,在硬件系統的配合下,分辨率可達0.1nm。
部分參數
Z向分辨率:0.1nm橫向分辨率(0.5λ/NA):100X~2.5X:0.5um~3.7um
粗糙度RMS重復性:0.1nm
表面形貌重復性:0.1nm
臺階測量:重復性:0.1% 1σ;準確度:0.75%
產品功能
1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;
3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;
4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等四大模塊的數據處理功能;
5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;
6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。
W系列光學輪廓測量儀采用了CCD取代了顯微鏡中的目鏡,可以直接從電腦上實時視頻窗口觀察樣品表面形貌,也可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀察更加方便。支持拼接功能,將測量的每一個小區域整合拼接成完整的圖像,拼接精度在橫向上和載物臺橫向位移精度一致,可達0.1um。