X射線熒光分析儀EDX-GP的詳細(xì)介紹

　　標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng).

測(cè)試步驟：


操作簡(jiǎn)便，一個(gè)指令即可開始全自動(dòng)測(cè)定。 
測(cè)定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷，現(xiàn)在改由裝置自動(dòng)判斷，即使初學(xué)者也可簡(jiǎn)便·高精度地測(cè)定。
 
1st Step
放置樣品
●將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認(rèn)分析位置。
●選擇分析區(qū)域。
●關(guān)閉樣品室。

2nd Step
選擇分析條件／輸入樣品名稱
●一個(gè)畫面中可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
●點(diǎn)擊開始。

3rd Step
顯示分析結(jié)果
●測(cè)定結(jié)束后，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測(cè)定偏差）］。
●點(diǎn)擊即可顯示［結(jié)果列表］或［創(chuàng)建報(bào)告書］。
只需1次點(diǎn)擊，便可根據(jù)預(yù)先登錄的分析條件， 
自動(dòng)執(zhí)行從測(cè)定到結(jié)果的一系列操作。
■ 校準(zhǔn)曲線自動(dòng)選擇功能
不含有害元素時(shí)，測(cè)定過程中能夠判定結(jié)果時(shí)，即自動(dòng)終止測(cè)定，縮短分析時(shí)間。
■ 省時(shí)功能
不含有害元素時(shí)
不含有害元素時(shí)，測(cè)定過程中能夠判定結(jié)果時(shí)，即自動(dòng)終止測(cè)定，縮短分析時(shí)間。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例
含量低于檢出下限值時(shí)，判斷不含有，測(cè)定自動(dòng)結(jié)束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限，與設(shè)定的200秒（=100秒＋100秒）分析時(shí)間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時(shí)間。
有害元素含量高時(shí)
由設(shè)定的目標(biāo)管理精度自動(dòng)決定測(cè)定時(shí)間。 
在測(cè)定精度達(dá)到管理值時(shí)結(jié)束測(cè)定。
■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例


測(cè)定高濃度元素時(shí)，在比設(shè)定的測(cè)定時(shí)間更短的時(shí)間內(nèi)即可獲得高強(qiáng)度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時(shí)間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設(shè)定的分析時(shí)間為200秒（=100秒＋100秒），實(shí)際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時(shí)間。


EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng)。


標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器＆樣品圖像觀察組件


測(cè)定異物或者測(cè)定包含多個(gè)部位的樣品時(shí)，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時(shí)，可以簡(jiǎn)單的設(shè)定分析位置。測(cè)定小樣品或樣品中特定位置時(shí)，可以使用準(zhǔn)直器，更改X射線照射區(qū)域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）


10mmφ?qǐng)D像（塑膠）
3mmφ（金屬）
 
形狀校正功能
即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時(shí)，X射線強(qiáng)度將發(fā)生變化，得到的定量值也會(huì)受到影響，EDX-GP通過使用BG內(nèi)標(biāo)法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結(jié)果。 
※BG內(nèi)標(biāo)法 
通過散射X射線強(qiáng)度使各元素的X射線熒光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)化的一種校正方法。
測(cè)定結(jié)果列表管理
創(chuàng)建列表功能
已保存數(shù)據(jù)可以用Excel形式列表顯示
超大樣品室可以對(duì)應(yīng)各種樣品形態(tài)及大小。
采用超大樣品室：可以放置370mm長(zhǎng)×320mm寬×155mm高的大型樣品，令緊湊型機(jī)身。