主要用于對粉末、固體和類似糊狀材料進行物相分析，該設備體積小，重量輕，耗電少，能快速對樣品進行校準和測試，衍射峰位置的測量精度0.001°，用于計算機控制、在Windows窗口下可直接看到數據的采集和及時處理。它利用X射線衍射原理可以對粉末樣品、金屬樣品等多晶材料進行定性或定量分析、晶體結構分析，廣泛應用于工業、農業、國防、制藥、礦產、食品安全、石油、教育科研等領域。
再升級！
TDM-20除了在TDM-10的基礎上加強易用性，穩定性并降低能耗以外，新型高性能陣列探測器的加載使整機性能有了飛躍式的提高。
| 高精度半導體微帶探測器(陣列探測器)是由 640 個半導體微帶條 組成的，相對于傳統探測器，可以在較短的采樣周期內獲取完整 的高靈敏度、高分辨率的衍射圖譜和更高的計數強度。 高精度半 導體微帶探測器單通道計數動態數據范圍 24 位，計數 探測器計數可達1X10^9cps；同時配合DCS控制器讀出時間僅89μs。 |  一維陣列探測器  |
| 新特性 即插即用 模塊化設計和標準接口技術方案 *的高頻高壓電源技術使整機功耗更低 高度集成的桌面冷卻循環水系統，使設備性能更加可靠。 |  即插即用接口 |
冷卻系統
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