Snapscan VNIR是一套凝視拍攝，內部掃描的可見近紅外高光譜成像系統（470-900nm），其核心的光學器件為IMEC公司基于其多年在納米微電子的技術積累，開發的一款像元鍍膜線掃型(LineScan)高光譜芯片。相比于傳統的狹縫與光柵分光模式的高光譜成像儀，SNAPSCANVNIR具有體積小巧；光通量高；數據采集速度快。
Snapscan VNIR可采集像素分辨率為3600*2048的高光譜數據，在470-900nm范圍內含有連續的150個光譜通道，可通過標準定標白板進行反射率計算。另外Snapscan VNIR使用C-Mount光學接口，可接上C接頭采集宏觀樣本的高光譜數據，也可接在接在顯微鏡上采集微觀樣本的高光譜數據。
主要特點：
- 基于像元鍍膜線掃型芯片的內部推掃高光譜成像，無需狹縫和光柵
- 沒有狹縫的限制，通光量更高
- 空間像素分辨率高，一次推掃可實現3600*2048的高光譜數據采集
- 穩定牢靠，小巧輕便，便于攜帶
基本參數：
| 成像方式 | 行鍍膜方式，內置掃描平臺 |
| 光譜范圍 | 470-900 |
| 光譜波段 | 150 |
| 光譜分辨率 | 10-15nm |
| 位深 | 10bit |
| 散熱 | 半導體制冷+風冷 |
| 接口 | USB 3.0 和 GPIO接口 |
| 重量 | 0.6kg（不含鏡頭） |
