HORIBA XGT-1000WR主要技術指標:
1、 分析元素:Si~U(Cd/Pb高精度型);Na~U(任選:φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型)
2、 檢測精度:Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內部尺寸:不超過460×360 mm(高150 mm)
4、X射線照射徑:φ1.2 mm(可選:φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換)
5、 檢測器:高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設備重量:約 265 kg(不含桌子、計算機)
7、 外形尺寸:分析部分:610(W)×750(D)×500(H)mm
8、 信號處理部:220(W)×500(D)×480(H)mm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA擁有堀場制作所擁有70多年的X射線分析技術沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款經典機型。其X熒光光譜儀被廣泛推薦使用,廣泛應用于RoHS,ELV,WEE的檢測和過程控制