兩探針電阻率測試儀主機技術參數
（1）測量范圍：
可測硅晶體電阻率：0.005-50000Ω•cm
可測硅棒尺寸：zui大長度300mm；直徑20mm（均可按用戶要求更改）。
（2）恒流源：
輸出電流：DC0.001-100mA 五檔連續可調
量程：0.001-0.01mA（1-10μA）
0.01-0.1mA（10-100μA）
0.1-1.0mA
1.0-10mA
10-100mA
恒流精度：各檔均優于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0-199.99mV
靈敏度：10μA
基本誤差：±（0.004%讀數±0.01%滿度）
輸入阻抗：≥0.3%
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-9
探針間距：1.59±0.01mm 探針直徑Φ0.8mm
游移率：＜0.2% 探針材料：硬質合金（WC）
探針壓力：3±1N/單針
（6）供電電源：
AC 220V ±10% 50/60 Hz. 功率：12W
（7）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對溫度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射。
（8）重量、體積：
主機重量：7.5Kg
體積：390×340×190（單位：mm 長度×寬度×高度）
兩探針電阻隔率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標準及美國材料與試驗協會（ASTM）*的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量模截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。
