GXF-215B 數顯式硅酸根分析儀器
| 測量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重復性誤差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 長期漂移（24小時） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化學方法 | 硅鉬蘭光度法GB 12150—89 0 GXF-215B 數顯式硅酸根分析儀器 | ||||
| 測量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重復性誤差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 長期漂移（24小時） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化學方法 | 硅鉬蘭光度法GB 12150—89 | ||||
GXF-215B 數顯式硅酸根分析儀器
| 測量范圍 | 0~50.0μg/LsiO2 | ||||
| 基本誤差 | ≤±2.0μg/L | ||||
| 重復性誤差 | ≤±0.2μg/L | ||||
| 短期漂移（30分鐘） | ≤±0.2μg/L | ||||
| 長期漂移（24小時） | ≤±2.0μg/L | ||||
| 化學方法 | 硅鉬蘭光度法GB 12150—89 | ||||
