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介電常數(shù)及介質損耗測定儀廠家

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公司名稱北京縱橫金鼎儀器設備有限公司
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廠商性質生產廠家
更新時間2022/6/26 17:44:33
訪問次數(shù)305

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公司介紹主營產品

北京縱橫金鼎儀器設備有限公司（簡稱金鼎儀器，JDYQ）于2016年注冊成立，注冊資金5000萬元。是以中國航天研究院，清華大學系專家作為公司技術團隊。公司致力于各類試驗儀器的研發(fā)、生產、制造及銷售，并有自主研發(fā)軟件的專業(yè)團隊，公司總部坐落于美麗富饒的經(jīng)濟文化交流中心——北京市，物華天寶，人杰地靈。
公司自創(chuàng)建以來，一直保持著健康穩(wěn)定的發(fā)展態(tài)勢，并以超過%的年均增長速度快速持續(xù)發(fā)展，完善的客戶服務體系，確保了金鼎儀器產品的設計*，質量穩(wěn)定，供貨及時和服務周到。公司擁有自主的設計資質，已獲得十余項國家Z利產品。公司擁有一批專業(yè)從事設計、制造、安裝、調試及售后服務的員工隊伍：在軟件設計和技術研發(fā)上，公司擁有清華大學、工業(yè)大學高級工程師的專家團隊和專業(yè)*、勇于創(chuàng)新的中青年專業(yè)技術人員和項目人員；金鼎儀器本著“鑄造輝煌，唯有質量”的堅定信念。
金鼎儀器立志打造專業(yè)精深，通過不斷創(chuàng)新及與用戶的深入合作持續(xù)改進產品，保證用戶對品牌的*信任。我們對品牌成功的定義或許與眾不同，我們的目標是成為國內用戶二次購買率的試驗儀機品牌，即用戶流失率的企業(yè)。

展望未來，金鼎儀器正在以打造基業(yè)長青百年企業(yè)的發(fā)展目標為指導，全面提升內部管控，按照專業(yè)化、規(guī)模化、品牌化、資本化的發(fā)展策略，先。同時，金鼎儀器不斷致力于與企業(yè)集團強強合作，以共創(chuàng)中國精密儀器行業(yè)的美好明天而不斷努力。

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測定儀，試驗儀、密度計

產品簡介在線詢價

描述：介電常數(shù)及介質損耗測定儀廠家實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法1本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。

介電常數(shù)及介質損耗測定儀廠家產品信息

產品名稱：介電常數(shù)及介質損耗測定儀廠家

產品型號：LJD-B、LJD-C、QS-37

符合標準：GB/T1409、GB/T5594

產品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質損耗測試

適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等

測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

主要配置：主機Q表、夾具、電感組成

測試項目：介電常數(shù)、介質損耗、介質損耗因數(shù)、介質損耗角正切值

使用人群：科研所、教學、質量、單位等

付款方式：全款發(fā)貨

產品品牌：縱橫金鼎儀器

產品貨期：1-3個工作日

產品類別：電性能檢測儀器

ASTM D150-11

實心電絕緣材料的交流損耗特性和

電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法¹

本標準是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認的年號。上標符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。 介電常數(shù)及介質損耗測定儀廠家
　　　　本標準經(jīng)批準用于所有機構。
1.介電常數(shù)測試儀范圍
1.1 本試驗方法包含當所用標準為集成阻抗時，實心電絕緣材料樣本的相對電容率，耗散因子，損耗指數(shù)，功率因子，相位角和損耗角的測定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。

注1：在普遍的用法，“相對”一詞經(jīng)常是指下降值。

1.2 這些試驗方法提供了各種電極，裝置和測量技術的通用信息。讀者如對某一特定材料相關的議題感興趣的話，必須查閱ASTM標準或直接適用于被測試材料的其它文件。^2,3

1.3　　本標準并沒有*列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實際使用情況進行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。特殊危險說明見7.2.6.1和10.2.1。

¹　本規(guī)范歸屬于電學和電子絕緣材料ASTM D09委員會管轄，并由電學試驗D09.12附屬委員分會直接管理。

當前版本核準于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準。前一較新版本于2004年批準，即為　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。

²　R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測量,” 工程電介質, Vol. IIB, 實心絕緣材料的電學性能, 測量技術, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

³　R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質損耗,” 工程電介質,Vol IIA, 實心絕緣材料的電學性能: 分子結構和電學行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.介電常數(shù)測試儀引用文件
2.1 ASTM標準：⁴

D374 　　　　固體電絕緣材料厚度的標準試驗方法

D618 　　　　試驗用塑料調節(jié)規(guī)程

D1082 　　　云母耗散因子和電容率（介電常數(shù)）試驗方法

D1531 　　　用液體位移法測定相對電容率（介電常數(shù)）與耗散因子的試驗方法

D1711 　　　電絕緣相關術語

D5032 　　　用飽和甘油溶液方式維持恒定相對濕度的規(guī)程

E104 　　　　用水溶液保持相對恒定濕度的標準實施規(guī)程

E197 　　　　室溫之上和之下試驗用罩殼和服役元件規(guī)程（1981年取消）⁵

3.介電常數(shù)測試儀術語

3.1 定義：

3.1.1 這些試驗方法所用術語定義以及電絕緣材料相關術語定義見術語標準D1711。

3.2 本標準術語定義：

3.2.1 電容，C，名詞——當導體之間存在電勢差時，導體和電介質系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。

3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時，電容單位為法拉，即：

C=q/V 　　　　　　　　　　（1）

3.2.2 耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數(shù)（K''）與相對電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。

D=K''/K' 　　　　(2)

⁴　相關ASTM標準，可瀏覽ASTM網(wǎng)站，或與ASTM客服service聯(lián)系。ASTM標準手冊卷次信息，可參見ASTM網(wǎng)站標準文件匯總。

⁵　該歷史標準的較后批準版本參考網(wǎng)站

3.2.2.1 討論——a：

D=tanδ=cotθ=X_p/R_p=G/ωC_p=1/ωC_pR_p　　　　　　　　(3)

式中：

G=等效交流電導，

X_p=并聯(lián)電抗，

R_p=等效交流并聯(lián)電阻，

C_p=并聯(lián)電容，

ω=2πf（假設為正弦波形狀）

耗散因子的倒數(shù)為品質因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：

D=ωR_sC_s=1/ωR_pC_p　　　　　　　　(4)

串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關系滿足以下要求：

C_p=C_s/(1 D²) 　　　　　　　　　　　　(5)

R_p/R_s=(1 D²)/D²=1 (1/D²)=1 Q²　　　　　　　　　　　　　(6)

4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入LJD-C)，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算*的。

三、主要技術特性及配置

主要配置

序號	構成	型號	數(shù)量	制造廠家
1	主機	LJD-C	1臺	縱橫金鼎
	測試裝置（夾具）	S916	1臺	縱橫金鼎
	標準電感	LKI-1	1套	縱橫金鼎
2	三電極系統(tǒng)(油中、空氣中) 油中帶油槽		各1套	縱橫金鼎
3	油槽		1臺
4	日常維修工具		1套
	說明書

介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質損耗測試儀/介質損耗因數(shù)測試儀/介質損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質損耗測試儀/材料介質損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術。

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路殘余電感減至z低，* Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

二、主要技術特性：

*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

3．Q值測量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF

7．主電容調節(jié)范圍： 17～240pF

8．準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

14. 介電常數(shù)測試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質損耗測試儀/相對介電常數(shù)測試儀/介質損耗測試儀/介質損耗因數(shù)測試儀/介質損耗角正切值測試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測試儀/工頻介電常數(shù)測試儀/固體介電常數(shù)介質損耗測試儀/液體介電常數(shù)介質損耗測試儀/材料介質損耗和電容率測試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測試儀/介電常數(shù)及介損測試儀電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

三、配置：

主機一臺

電感九支

夾具一套

液體杯一套

隨機文件一套