（一）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達 5 層，精度及穩(wěn)定性高。
2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 110*110*5mm。（固定臺可選）
3. 激光定位和自動多點測量功能。
4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結
果。
8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件*升級。
10. 無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。
11. 使用安心無憂，售后服務響應時間 24H 以內(nèi)，提供*保姆式服務。
（二）iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
1. X 射線管：高穩(wěn)定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
2. 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）
能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
3. 濾光片/可選
初級濾光片：Al濾光片，自動切換
7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
（三）X射線鍍層測厚儀測量原理
