芯片測試自動化恒溫恒濕箱能模擬各種濕度或溫度環境滿足GB/T 10589，GB/T2423，GB/T5170.2，GJB150A1/4各種標準要求下的可靠性指標及穩定性能等參數，將給廣大需求顧客提供預測和改進產品質量獲得可靠性的試驗依據。

1、芯片測試自動化恒溫恒濕箱規格參數：(除了以下標準尺寸愛佩還可以為大家定制非標尺寸）

AP-HX-80試驗箱內尺寸（W*D*H）mm:400*400*500

AP-HX-150試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600

AP-HX-225試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750

AP-HX-408試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850

AP-HX-800試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000

AP-HX-1000試驗箱內尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000

2、恒濕濕度范圍：20%～98%R.H；

3、恒溫溫度范圍可選：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃.

4、解析度：溫度：0.01℃；濕度：0.1%R.H

5、溫度波動度：±0.5℃；

6、溫度均勻度：±2℃；

7、升溫速率：約3℃/min（從低溫升到高溫、非線性空載）；

8、降溫速率：0.75℃-1℃/min（從高溫降到溫、非線性空載）；

9、本試驗箱可模擬高溫恒溫、低溫恒溫、高溫恒濕、濕熱交變等不同環境氣候的測試條件，搭配容易操作和學習的高準確性編程系統，提供佳測試性能條件，廣泛適用于電工、電子、電器、LED、汽車配件、手機、儀器儀表及其它產品零部件在高低溫濕熱環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，確定上述產品對高低溫及濕熱環境的耐溫耐濕適應性檢測