日本nanoseeds細粒破碎力測量儀NS-A系列
NS-A系列細顆粒破碎力測量儀是一種通過壓頭對細顆粒和顆粒加壓,可以直接測量破碎時非常微弱的力的設備。可測量的負載為 10nN。通過更換檢測傳感器,可以測量高達 9 位至 10N 的各種微小力。在顆粒硬度(強度)和顆粒硬度(強度)的測量中,我們實現了易用性和測量精度。
- 可以測量用戶規定的任何顆粒的破碎力(強度)。
-通過更換傳感器,可以測量從 10nN 到 10N 的寬范圍。
? 可測量 3 μm 的顆粒。
- 溫控臺(可選)可控制臺溫高達150°C。
-高性能隔振臺(選件)可實現高精度測量,并*抑制測量噪音。
顆粒被壓碎時的運動被記錄為視頻(標準規格),并且有專門用于以與測量波形相關聯的形式回放的軟件。
日本nanoseeds細粒破碎力測量儀NS-A系列
適用于以下評價
?顆粒粉碎特性的測量
?調色劑溫度依賴性顆粒強度變化的測量
?原材料粉末的質量控制?原材料選擇評估
?電池材料強度測量
?顆粒涂膜評估
? 一種墨粉顆粒強度的測量
?薄膜強度的測定
智能負載傳感器
通過根據樣品更換負載傳感器,可以測量各種細小顆粒和粒狀物料的破碎力。只需輕輕一按即可更換負載傳感器。通過使用來自傳感器外部的激光掃描負載檢測器來檢測負載。我們實現了廣泛的測量檢測測量范圍,可以處理各種樣品。
規格
專用測量軟件(適用于 Windows) |
體視顯微鏡(屏幕放大倍數 3000x) |
樣品臺(陶瓷鏡面制作) |
附帶專用工具 |
專用個人電腦 |
金屬鹵化物光源(80W) |
智能負載傳感器測量范圍 (6種) | |
10mN-10N | 10μN~1mN |
1mN-100mN | 1 μN 至 100 μN |
0.1mN-10mN | 10nN-10μN |
控溫階段可達150℃ | 高性能隔振臺0.5Hz |
待測樣品 | 3 微米至 1 毫米 | |
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可測量負載范圍 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
測量壓縮速度 | 100 納米/秒至 50 微米/秒 | |
圖像捕捉 | 3CCD攝錄一體機 | |
溫控臺 | 常溫~150℃ | |
高性能隔振臺 | 垂直 0.5Hz(可選) | |
尺寸/重量 | 身體 | 450W x 500H x 450D (20kg) |
控制器 | 320W x 250H x 350D (10kg) | |
電源 | AC100V 3A |