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MCS651在線型紫外光纖光譜分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱山東智惠儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2021/8/25 15:34:10
  • 訪問次數284
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山東智惠儀器有限公司致力于科學儀器和設備的推廣和應用,是集研發、銷售和服務于一體的高科技企業。為食品、制藥、化工、農業、生化、材料、化工及各大科研院校等行業的用戶,提供實驗室和生產線的分析檢測儀器、配套設備和完整的解決方案。目前與德國Carl Zeiss(卡爾·蔡司)公司通力合作,專注于ZEISS各類近紅外光譜儀及配套應用的整體解決方案。主營產品有ZEISS AURA手持式近紅外光譜儀,ZEISS Corona系列臺式、在線近紅外光譜儀,MCS600多通路在線近紅外光譜儀等。
近紅外光譜儀
產品評論(0)MCS651在線型紫外光纖光譜分析儀現代工業的要求和應用需要各種類型的光譜儀設計,因此我們提供大量的不同類型的光譜儀,每個光譜儀都包含了德國蔡司成熟的且經過驗證的技術
MCS651在線型紫外光纖光譜分析儀 產品信息
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MCS651在線型紫外光纖光譜分析儀MCS651內加載在紫外光譜模塊,用于共軛鍵團的分析


現代工業的要求和應用需要各種類型的光譜儀設計,因此我們提供大量的不同類型的光譜儀,每個光譜儀都包含了德國蔡司成熟的且經過驗證的技術。在UV/VIS/NIR 區域,我們開發出了具有可擴展波長范圍(達 2.2 µm)的新型多色儀。


MCS 是搭配了紫外、可見和近紅外的光譜儀,設計中包含了一個用于執行監測的集成處理器,增強的信噪比、波長可重復性和線性度及最小漂移。適用于在線監控中的出色光譜分辨率和可重復性是蔡司光譜儀的特點。采用的電子組件和經優化的散熱設計,使光譜儀制冷單元具有高穩定性和高效率。


MCS 的每個組件都有英特爾智能的內置信號處理器。開機后,系統自動進行初始化和內部測試以識別系統組成、確定其可用性和檢查設備各方面功能是否正常。




規格參數
光譜儀         MCS 601 UV-NIR       MCS 651 UV-C        MCS 651 VIS         MCS 651 NIR
光譜范圍/ nm   190 ...1015190 ...610        360 ...780        695 ...1100
多色儀MCSMCS   MCS   MCS
二極管數量1024512   512   512
平均光譜像素間距/ nm0.80.8   0.8   0.8
光譜分辨率 / nm
(十分之一高半寬)
3 至 4
3.0
  3.0
  3.0
波長精度 / nm
< 500 nm
0.50.5   0.5   0.5
波長精度 / nm
> 500 nm
1.01.0   1.0   1.0



         特點

       

         ■ 光學和電子學的新進展

         ■ 優異的光度、噪聲、線性度

         ■ 光譜儀和燈泡具有較寬波長范圍

         ■ 極穩定的微處理器控制系統

         ■ 新的集成機箱增強了通用性

         ■ 模塊化的設計和智能診斷系統

         ■ 精確的自檢功能使系統的性能保持在更好狀態

         ■ 通過控制器自動識別模塊來進行快速交換或擴展

         ■ 光譜儀系統可提供新的高頻數據采集功能,具有緩沖大量光譜數據的能力

         ■ 服務,操作快捷,維護簡便

         ■ 工業標準接口(以太網無線局域網)

         ■ 配件選擇很全面

         ■ 多個系統版本以適應多種應用

         ■ 與第三方相互操作,如化學計量學軟件包




MCS 系統測量頭和配件的模塊化設計和多選擇性可以為您的測量任務提供很大的靈活性。無論您是想測量透過率或反射率還是想選擇特定波段進行工作,整個系統都可以滿足您的需求。此外, 我們為您提供實驗室專用配件,讓檢測質量達到實驗室要求。您需要選擇滿足您需求的配件。




侵入式光譜儀探針。紫外、近紅外浸入式探頭/探針

標準浸液探針是實驗室測量的理想之選。借助傳統比色皿測量,準直光束僅一次穿過溶液。






用于透射和反射測量的光學元件

用于透射和反射測量的光學元件

可提供具有不同圖像和測量光斑大小的光學元件。使用 SMA 接口或蔡司連接器來連接光纖。





OMK500-H是集成了鹵素燈的反射測量探頭OMK 500-H 是一種集成有鹵素燈的反射測量頭,可用于漫反射測量。它能與MCS譜儀定制版組合使用。

OMK 500-H 的應用包括紋理樣品的在線顏色測量,如紡織品、紙張和塑料等。光學系統能以近平行光束從 0° 角(垂直樣品)為樣品提供照明。15 根獨立光纖以環形均勻排列,以

                                                                   便從 45° 角觀察樣品。光纖束通過一個光纖連接器與光譜儀相連。通過備用光纖將光線直

                                                                   導向至光譜儀(而非經樣品)來形成雙光束排列。

                                                                  技術參數

                                                                   光譜范圍                    380 nm 至 900 nm OMK 500 -H
                                                                                                    400 nm 至 2400 nm OMK 500 H - NIR
                                                                   觀察幾何結構             45° 時 15 x 24° 環形
                                                                   照明角度                    0°
                                                                   光源                          集成的鹵素燈



DFR D/8°是專為光滑的散射樣品的非接觸式反射測量而設計的探頭OFR D/8° 測量頭專為光滑和散射樣品的非接觸式反射測量而設計。OFR D/8° 是二極管陣列系統 MCS 和 CORONA 的配件,且專為這類系統的使用進行了優化。

OFR D/8° 測量頭可用于鏡面或非鏡面反射的測量。通過烏布利希積分球漫射照明樣品。球體包含一個鹵素燈,或通過使用光纖連接的外部氙氣閃光燈照亮。球內壁反射的光線可通過光纖傳輸至參考光譜儀中。將待測光成像至光纖連接器上。然后,通過光纖送至樣品光譜儀

                                                                   中。使用 BK7 玻璃板保護烏布利希積分球免受臟污。

                                                                   技術參數
                                                                   光譜范圍                     380 nm 至 950 nm
                                                                   視角                            8°
                                                                   照明角度                     漫射
                                                                   球直徑                        55 mm
                                                                   有效測量區域              直徑10 mm
                                                                   光源                           鹵素燈(OFR D/8°-H)或外部氙氣閃光燈



近紅外漫反射探頭漫反射探頭

MCS配件中還包含一個用于過程監控且有效測量表面為3-5mm的漫反射探頭。該探頭適用于強散射樣品的測量,如粉末,聚合物,不透明液體或固體。




OFK30測量探頭是一款內置了積分球的反射測量探頭OFK 30 測量頭

由于空間應用或能量因素,一些特定的使用條件要求配備有積分球反射測量頭,有效測量直徑可達30mm。因此,蔡司開發了OFK 30 測量頭已經成為MCS的配件之一。





光纖光譜儀的比色皿支架、比色皿底座,SMA連接器,溫度可以控制在+/-0.5℃內培養皿/比色皿底座、溫度控制

SMA光纖連接器, 可用于直徑為20mm的標準底座,溫度可以控制至在+/- 0.5 °C以內。









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