德國Instrument Systems TOP 200 光學探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學探頭
TOP 200 光學探頭基于普里查德式光學設計,帶有集成式取景相機。
產品特長:
普里查德式光學設計配有傾斜度僅 15o 的孔鏡,可以提供非常圓的清晰圖像點
光纖的靈活連接和獲取可重現讀數的ZL模式混合器,以及極低的偏振靈敏度
可通過軟件選擇的 6 種測量點大小
具有寬視場的內部取景相機
小的測量點:80 μm
測試對象的可選照明
TOP 150 是具有單孔徑的低成本替代產品。
測量應用
測得的輻射強度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可確保光纖中的光透射均勻,即使光纖位置改變,也可產生可重現讀數。
普里查德原則支持在測量過程中觀察視場,并監控視場進行準確定位。取景相機的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動導入并與讀數一起保存。
產品類型
德國Instrument Systems TOP 200 光學探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
用于輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS 通常包含以下部件: