X射線分辨率測試卡

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具體成交價以合同協議為準

公司名稱北京眾星聯恒科技有限公司
品牌
型號XRESO系列
所在地
廠商性質其他
更新時間2021/6/29 17:38:00
訪問次數847

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在專業、敬業、拼搏的理念指導下，不斷進取學習，時刻關注科學領域的發展和創新，北京眾星聯恒科技有限公司致力于引進的EUV/SXR/X射線產品、及新孵化*產品給中國的同步輻射，研究所，高校及制造業的客戶。我司是德國INCOATEC公司、美國XOS（光學組件）、德國X-SPECTRUM、德國GREATEYES、德國Microworks、捷克ADVACAM、及英國MSI輝光放電質譜儀的中國區總代理，產品線包含X射線源、EUV/SXR/X射線光學元件、EUV/SXR/X射線探測器、X射線分析系統和輝光光放電質譜儀等。我司同時致力于給客戶提供x射線解決方案，并于2016年推出了具有自主知識產權的桌面超快X射線診斷裝置，具有超微、超亮、高信噪比和高穩定性的特點，在物質超快過程研究、精細分辨成像等方面具有重要的應用價值。我們堅持以客戶需求為導向，以專業、專注為根本，以高效服務為核心，緊密跟進學科的發展，努力從客戶處學習并豐富完善自己的技術儲備，解決客戶的實際需求，以前沿技術驅動的創新獲取公司發展的空間，逐步成長為優秀的X射線領域及的材料分析系統方案提供商。我們敬畏知識不斷進步所帶來的變化和革新，堅信：高品質的產品及優質的服務是獲得客戶認可的標準！

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光學儀器組件,X射線儀器部件/操作系統

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X射線分辨率測試卡

X射線分辨率測試卡產品信息

公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學配件的研發與銷售經驗。在范圍內，通過與眾多來自同步輻射科學，阿秒科學，高強度物理學等領域的科學研究者開展緊密合作，積累了大量*的設計與制造技術，其產品在業內享有很高的評價。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點，適合被各種輻射光設施使用。另外，分辨率測試卡被當作業界的標準。不只是學術研究，在X射線的檢查裝置開發現場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領域給予客戶在研發上的幫助。

產品介紹：

用于X射線分析的分辨率評估圖的事實上的標準

優點

恩梯梯技術公司的X射線分辨率評估圖被應用于X射線顯微鏡、X射線微光束分析和X射線成像等需要超高分辨率的X射線分析。此已成為事實上標準的X射線圖被廣泛應用于世界上許多地方。
恩梯梯技術公司的X射線圖的特點是高耐X射線輻射性、超清晰圖案和低邊緣粗糙度。本公司基于Ta吸收體圖的SiC膜極其精確，能為用戶的X射線分析系統評估提供清晰的圖像。
您不嘗試一下這事實上標準的性能嗎？

特點：

有三種X射線圖可應用于各種方面：標準型、高分辨率和高對比度型以及超高分辨率型。可為用戶的系統定制圖案布局和基板尺寸。

規格

項目		標準型 XRESO-100	高分辨率型帶較厚Ta 吸收體 XRESO-50HC	新！！超高分辨率 XRESO-20
基板	材料、尺寸	Si 10平方毫米
基板	厚度	1毫米	1毫米	0.625毫米
膜	材料、厚度	Ru 20納米 SiN 2微米	Ru 20納米 SiC 200納米 SiN 50納米	Ru 20納米 SiC 200納米 SiN 50納米
	區域	1平方毫米	1平方毫米	1平方毫米
	對齊	基板中間	基板中間	基板中間
圖案	吸收體、厚度	Ta 1微米	Ta 500納米	Ta 100納米
	最小圖案尺寸	100納米	50納米	20納米放射形圖案
	圖案區域	250微米×350微米	300平方微米	300平方微米