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板厚測量系統 測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱秋山科技(東莞)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號F3-sX
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質經銷商
  • 更新時間2024/3/20 10:36:05
  • 訪問次數1416
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秋山科技(東莞)有限公司是一家專業從事日本進口色選機,碾米機(胚芽米機、精米機),農業用測定儀器(食味計、白度計、水分計、谷粒判別器),物性測定儀器,食品分析儀器,質構儀,流變儀,硬度計,光學儀器,人工太陽能燈等等銷售的科技型公司。秋山科技----世界分選產業*者,為眾多領域提供適合您的的色選機而努力。 秋山科技不僅僅是色選機的專業銷售商,更是一家色選領域技術創新的*。秋山科技擁有*的食品色選技術(高級異物檢驗、生物特性、葉綠素含量、損壞、水分含量、霉菌毒素、異物、小斑點、細微色差、細微瑕疵),透明塑料粒子色選技術(篩選塑料粒子黑點和變色異物、可以篩選的原料及異物舉例PET, PBT, POM, PS, PP, PA, PC, ABS, PBT, PE, PPS, PVA, SAP)。



農用機械,設備/物性測定儀器/食品分析儀器/光學儀器/人工太陽能燈
測量范圍 1 類型 數字式
日本filmetrics板厚測量系統F3-sX
可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發的具有高波長分辨率的光譜儀,可以測量高達 3 mm 的厚膜。
板厚測量系統 測厚儀 產品信息

日本filmetrics板厚測量系統F3-sX


可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發的具有高波長分辨率的光譜儀,可以測量高達 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑,可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動載物臺,可以輕松測量面內分布。

主要特點

  • 高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度

  • 配備自主研發的高波長分辨率分光鏡!可測量高達 3 mm 的厚膜

  • 10 μm 的小光斑直徑可以測量粗糙和不均勻的薄膜。

  • 通過添加自動平臺輕松測量面內分布

日本filmetrics板厚測量系統F3-sX

主要應用

半導體硅基板、LT基板、Ti基板等的厚度測量
平板顯示器測量玻璃基板厚度和氣隙

產品陣容

模型F3-s980F3-s1310F3-s1550
測量波長范圍960 – 1000nm1280 – 1340nm1520 – 1580nm

膜厚測量范圍
(Si 基板)

4 微米 – 350 微米7 微米 – 1 毫米10 微米 – 1.3 毫米
膜厚測量范圍
(玻璃基板)
10 微米 – 1 毫米15 微米 – 2 毫米25 微米 – 3 毫米
準確性± 0.4% 薄膜厚度
測量光斑直徑10微米

*取決于樣品和測量條件


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