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反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱秋山科技(東莞)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)F10-RT
  • 所  在  地東莞市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2024/3/20 10:34:19
  • 訪問次數(shù)1297
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秋山科技(東莞)有限公司是一家專業(yè)從事日本進(jìn)口色選機(jī),碾米機(jī)(胚芽米機(jī)、精米機(jī)),農(nóng)業(yè)用測(cè)定儀器(食味計(jì)、白度計(jì)、水分計(jì)、谷粒判別器),物性測(cè)定儀器,食品分析儀器,質(zhì)構(gòu)儀,流變儀,硬度計(jì),光學(xué)儀器,人工太陽能燈等等銷售的科技型公司。秋山科技----世界分選產(chǎn)業(yè)*者,為眾多領(lǐng)域提供適合您的的色選機(jī)而努力。 秋山科技不僅僅是色選機(jī)的專業(yè)銷售商,更是一家色選領(lǐng)域技術(shù)創(chuàng)新的*。秋山科技擁有*的食品色選技術(shù)(高級(jí)異物檢驗(yàn)、生物特性、葉綠素含量、損壞、水分含量、霉菌毒素、異物、小斑點(diǎn)、細(xì)微色差、細(xì)微瑕疵),透明塑料粒子色選技術(shù)(篩選塑料粒子黑點(diǎn)和變色異物、可以篩選的原料及異物舉例PET, PBT, POM, PS, PP, PA, PC, ABS, PBT, PE, PPS, PVA, SAP)。



農(nóng)用機(jī)械,設(shè)備/物性測(cè)定儀器/食品分析儀器/光學(xué)儀器/人工太陽能燈
測(cè)量范圍 1 類型 數(shù)字式
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
F10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率,并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),無需復(fù)雜的設(shè)置,而且設(shè)置非常簡單。
反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT

F10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率,并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),無需復(fù)雜的設(shè)置,而且設(shè)置非常簡單。?

主要特點(diǎn)

  • 集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
    光譜范圍廣,可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時(shí)測(cè)量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
    標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置

  • 放個(gè)樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),設(shè)置非常簡單

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT

主要應(yīng)用

平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜
光學(xué)鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

模型

F10-RT

-紫外線

F10-RT

F10-RT

-近紅外

F10-RT

 -近紅外

F10-RT

 -UVX

測(cè)量波長

范圍

190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm380 – 1050nm380 – 1050nm

膜厚測(cè)量

范圍

1nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 150μm15nm – 150μm1nm – 150μm

準(zhǔn)確性

± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米

光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素

測(cè)量示例

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測(cè)定例
同時(shí)測(cè)定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。


關(guān)鍵詞:電池
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