日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),無需復(fù)雜的設(shè)置,而且設(shè)置非常簡單。?
主要特點(diǎn)
集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
光譜范圍廣,可選擇多種光源反射率和透射率同時(shí)測(cè)量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置放個(gè)樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),設(shè)置非常簡單
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
主要應(yīng)用
平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜 |
---|---|
光學(xué)鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。 |
薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
產(chǎn)品陣容
模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX |
---|---|---|---|---|---|
測(cè)量波長 范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 380 – 1050nm |
膜厚測(cè)量 范圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
準(zhǔn)確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 |
測(cè)量示例
平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測(cè)定例
同時(shí)測(cè)定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。