太陽(yáng)能電池電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀
型號(hào):進(jìn)口。
太陽(yáng)電池缺陷檢測(cè)儀是依據(jù)太陽(yáng)電池的電致發(fā)光原理而研制的用于太陽(yáng)電池組件內(nèi)部缺陷檢測(cè)的儀器。根據(jù)太陽(yáng)電池、組件中電池片發(fā)光亮度的差異清楚地顯示組件中的裂片(包括隱裂和顯裂)、劣片及焊接缺陷。
太陽(yáng)能電池電致發(fā)光EL缺陷檢測(cè)儀分為在線、離線型單片、組件缺陷檢測(cè)儀、便攜式太陽(yáng)能電池缺陷測(cè)試儀。廣泛應(yīng)用于單晶、多晶及薄膜太陽(yáng)能電池片及組件的缺陷檢測(cè),包括層壓前、層壓后、串焊等引起的缺陷成像分析。
系統(tǒng)參數(shù)
■ 分辨率:zui大>10 mega Pixel;
■ 傳感器大小:2/3;
■ 像素大小:6.5μm x 6.5μm;
■ 曝光時(shí)間:5μm – 17s;
■ 標(biāo)準(zhǔn)電源:24V +/- 30%, max. 300mA;
■ 高分辨CCD定位圖像分析;
■ 同步數(shù)據(jù)采集;
■ 配備專業(yè)測(cè)試分析軟件;
■ 典型測(cè)量時(shí)間:200ms–5000ms。