日本densoku渦流膜厚計D-20
日本densoku渦流膜厚計D-20
重量2.0kg輕巧緊湊
,同時開始測量開關,測量時間甚至在一秒鐘之內即可
實現晶體振蕩方法,高穩定性(±1%)精度高,
因為無損總檢測可以
稱得上是因為,直接讀取不需要
渦流膜厚儀D-20的特點
輕巧緊湊
您可以隨身攜帶。
可以立即進行測量
開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內。
高穩定性(±1%)高精度
由于采用了晶體振蕩方法,因此具有很高的穩定性(±1%)和高精度。
可以檢查
由于它是非破壞性的,因此可以進行的檢查。
無需轉換
它是直接讀取類型,不需要轉換。
支持各種測量
可以測量金屬上的薄膜,鍍層,油漆,樹脂等(例如:鋁上的氧化膜,鐵上鋅的鍍層,油漆等)。
成為測量儀器
只需更換刻度盤,它便成為各種的測量儀器。
測量面積3m㎡以上
兼容3m㎡以上的測量面積。
還可以測量非金屬上的金屬涂層
它可以測量非金屬上的金屬涂層(例如,塑料上的鍍層)。
可以在彎曲表面,球形表面和內部管道上進行測量
也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外,可以測量管等的內表面(φ12.7mm以上)。
測量原理
當載有高頻電流的探頭(測量線圈)靠近金屬時,在金屬表面會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率,金屬的電導率,厚度,形狀等的影響,并且穿透深度及其大小不同。 然后,渦流流動以抵消探針的高頻磁場,從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的變化被放大并顯示在儀表上。這樣,可以從儀表的跳動中讀取膜厚值。由于膜厚值和儀表的跳動通常不成比例,因此可以使用直讀刻度盤直接讀取膜厚值。 |
渦流膜厚計D-20的規格
電源 | 8節AA電池,使用AC適配器時為AC100V |
重量 | 2.0公斤 |
尺寸 | 250(W)x 89(D)x 186(H)毫米 |
振蕩頻率 | A 107.8kHz B 431kHz C 1725kHz D 6.9MHz |
(注)規格如有變更,恕不另行通知。
渦流膜厚計D-20的探頭規格
1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
2.探頭線長 | 900毫米 |
3.根據導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面(標準) SM類型...平坦凹凸曲面(微細的) RP類型...凹面,管內面 SR型...用于小直徑管道內表面 由所述膜測得的探頭A,B的厚度,有C和D四種類型。 |
5.探針指南 | #180:平面測量 #120:φ25-60mm凸曲面測量 |