FOUNDRY-MASTER Pro2 落地式光譜儀憑借其高性能及可靠設計，以及創新光學系統和擴展的波長范圍，可確保對重要元素的精確鑒定和痕量分析，儀器擁有極低的檢出限及優異的*穩定性；分析結果準確，重現性好。日立分析儀器運用領xian的 CMOS 檢測器與數字讀出技術相結合，已逐漸成為金屬制造業、加工業及鑄造業的*。日立分析儀器落地式光譜儀的檢測波長范圍達到 130-780nm，無論從檢測下限到檢測上限都處于*地位。通過更低的波長分析范圍，FOUNDRY-MASTER Pro2 能夠將 C 的檢出限進一步降低至 5ppm，同時能夠更好的分析 Al 中的 P、Na、K 元素。通過結合創新的光學系統設計，優異的真空環境，以及全新設計的火花臺，FOUNDRY-MASTER Pro2 將 N 元素的分析下限也發揮到了極ji致，達到了 20ppm。
FOUNDRY-MASTER Pro2 落地式光譜儀采用了全新的光學系統設計，其中結合了帶優化像素分辨率（7pm）的全新 CMOS 固態檢測器技術，全新的光柵分光技術，代表了全新的直讀光譜技術。分光系統采用 16 塊 CMOS 作為檢測器，實現分析波段內的全譜接收。每塊 CMOS 具有 4096 像素，提升了像素分辨率（7 pm），具有更高的動態范圍，量子效率更高，測量低含量元素時更穩定。針對等離子態光譜信號的觀測特點，為了獲取*的觀測角度以獲得*的分析數據，日立分析儀器將光室進行了特定角度的傾斜放置。
