SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀——超級X熒光光譜儀
儀器介紹
SUPER XRF 2400PCB鍍層厚度熒光光譜儀是一款功能強大的X熒光光譜儀。它綜合了儀器的常規(guī)測試(普通模式)和*的光路系統(tǒng)測試 (超銳模式),普通模式能完成全元素,貴金屬,RoHS,鍍層等常規(guī)測試,超銳模式能對客戶比較關心的低含量元素進行更的測試。主要是使用天瑞儀器*超銳光路系統(tǒng),降低儀器的背景噪音,提高儀器的檢出能力,從而提高儀器的整體檢測性能。
技術指標
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
可進行測試模式之間的轉換,提高測試的效率
可對10個樣品進行自動切換測試
一次可同時分析多幾十種元素
分析檢出限可達0.1ppm
分析含量一般為0.1ppm到99.9%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
*工作穩(wěn)定性為0.1%
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
標準配置
超銳X光源和樣品激發(fā)機構
上蓋電動開關的大容量樣品腔
可自動切換的準直器,濾光片
高清晰CCD攝像頭
SDD探測器
數(shù)字多道采集處理系統(tǒng)
高低壓電源
進口400W端窗光管油冷散熱系統(tǒng),具有自動控溫功能
樣品自動切換系統(tǒng)
全自動真空系統(tǒng)
專業(yè)X熒光分析軟件
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
樣品腔尺寸:¢376×50 mm
重量:小于250Kg
性能特點
特殊光路系統(tǒng)
采用特殊的光路系統(tǒng),可滿足不同基體中痕量元素的測量,提高信噪比,降低檢出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使難以激發(fā)的痕量元素獲得更高的計數(shù)率,比普通EDXRF儀器的元素檢出限降低一個數(shù)量級,更加適合痕量元素的檢測。
數(shù)字多道技術
采用新數(shù)字多道技術,儀器可探測的計數(shù)率可高至100kcps,提高了儀器的測量精度,縮短了測量時間。
油冷散熱系統(tǒng)
油冷散熱系統(tǒng),保證了大功率X光源的散熱,使儀器的運行更加穩(wěn)定。
光閘系統(tǒng)
光閘系統(tǒng),保證X光源的穩(wěn)定性,同時提升X光管使用壽命。
抽真空系統(tǒng)
抽真空系統(tǒng),可以滿足輕元素的測量。