鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。檢測方法有 1. 金相法 2. 庫侖法 3. X-ray 方法。

鍍層厚度測試標準

鍍層厚度檢測（金相法）

GB/T 6462-2005          金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量顯微鏡法

ASTM B487-07             用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層厚度的標準試驗方法

ISO 1463-2003            金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法

EN ISO 1643-2004     金屬和氧化物覆蓋層.覆蓋層厚度的測定.顯微鏡法

JIS H8501-1999          鍍層厚度試驗方法

AS 2331.1.1-2001       鍍層厚度試驗方法

鍍層厚度檢測（XRF)

GB/T 16921-2005              金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜法

ISO 3497-2000                  金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法

DIN EN ISO 3497-2001   金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法

ASTM B568-09                   用X射線光度法測量鍍層厚度的標準試驗方法

ASTM A754-08                   X射線熒光涂層厚度的試驗方法

JIS H8501-1999                金屬覆層厚度試驗方法

鍍層厚度檢測（電鏡掃描法）

ASTM B748-90(2010)       通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗方法

鍍層厚度試驗方法

金相法：

        利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大，以便準確的觀測及測量。采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結果在誤差范圍之內；厚度越大，誤差越小。

庫侖法：

        用適當的電解液陽極溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質上*溶解，經過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時，可由試驗開始到試驗終止的時間計算；用非恒定電流密度溶解時，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示。適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法：

      X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。

GB/T 6462-2005

GB/T 6462-2005 影響測量鍍層厚度不確定度的因素

1 表面粗糙度

如果覆蓋層或覆蓋層基體表面是粗糙的，那么與覆蓋層橫斷面接觸的一條或兩條界面線是不規則的，以致不能精確測量。

2 橫斷面的斜度

如果橫斷面不垂直于待測覆蓋層平面，那么測量的厚度將大于真實厚度。例如:垂直度偏差 100,將產生 1,5% 的誤差。

3 菠蓋層變形

鑲嵌試樣和制備橫斷面的過程中，過高的溫度和壓力將使軟的或低熔點的覆蓋層產生有害變形;在制備脆性材料橫斷面時，過度的打磨也同樣會產生變形。

4 覆蓋層邊緣倒角

如果覆蓋層橫斷面邊緣倒角，即覆蓋層橫斷面與邊緣不*平整，采用顯微鏡測量則得不到真實厚度。不正確的鑲嵌、研磨、拋光和浸蝕都會引起邊緣倒角，因此在鑲嵌之前，待測試樣常要附加鍍層，這樣可使邊緣倒角減至小。

5 附加鍍層

在制備橫斷面時，為了保護覆蓋層的邊緣，以避免測量誤差，常在待測試樣上附加鍍層。在附加鍍層前的表面準備過程中，覆蓋層材質的除去將導致厚度測量值偏低。

6 浸蝕

適當的浸蝕能在兩種金屬的界面線上產生細而清晰的黑線;過度的浸蝕會使界面線不清晰或線條變寬，使測量產生誤差。

7 遮蓋

不適當的拋光或附加鍍覆軟金屬會使一種金屬遮蓋在另一種金屬上，造成覆蓋層和基體之間的界面線模糊。為了減輕遮蓋的影響，可反復制備金屬鍍層的橫斷面，直至厚度測量出現重現，或附加鍍覆較硬的金屬。

8 放大率

對于待測的任何一個覆蓋層厚度，測量誤差一般隨放大率減小而增大。選擇放大率時應使顯微鏡視野為覆蓋層厚度的 1.5 倍一3 倍。

9 載物合測微計的校正

載物臺測微計校正時的誤差將反映到試樣的測量中。標尺必須經過嚴密的校正或驗證，否則會產生百分之幾的誤差。常用的校準方法是:以滿標尺的長度為準確值，然后使用線性測微計測量每格長度，根據比例算出每格刻度值。

10 測微計目鏡的校正

線性測微計目鏡可提供的測厚方法。目鏡經校準，測量將更為準確。因校準與操作者的人為因素有關，因而目鏡應由測量操作者進行校準。重復校正測微計目鏡可希望得到小于1% 的誤差。校正載物臺測微計的兩條線的間距應在0.2μm或0.1% 中較大一個的范圍內 若載物臺測微計未作精度驗證，則應校正。

11 對位

測微計目鏡移動時的齒間游移也能引起測量誤差。為消除這種誤差，應保證對位過程中準線后移動始終朝同一方向。

12 放大率的一致性

放大率在整個視野內不一致就會出現誤差，因此，要保證將待測界面置于光軸中心，并且在視野的同一位置進行校準和測量