X-Supreme8000 臺式X射線熒光光譜儀與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求；例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。

為什么選擇日立分析儀器臺式 XRF 光譜儀？

• 操作方便

• *減少樣本制備時間

• 檢測限低

• 針對惡劣環(huán)境的結(jié)實耐用的設(shè)計

• 便于用戶定制和方法開發(fā)的靈活軟件

• 容易調(diào)整的儀器參數(shù)

• X-Supreme8000 臺式X射線熒光光譜儀綜合定性或全面定量分析

比較產(chǎn)品

X-Supreme8000 臺式 XRF 光譜儀

X-Supreme8000 XRF針對進(jìn)行質(zhì)量保證和過程控制要求的分析儀。

分析可被應(yīng)用于多種樣品種類，包括固體、液體、粉末 、軟膏、薄膜等，從PPM到%級，覆蓋元素周期表中 Na11 至 U92 的范圍。

• zui少或無需樣本制備。

• 無人操作，且非實驗室操作員也可使用

• FocusSD 技術(shù)提供快速、準(zhǔn)確和*的可靠性

• 靈活進(jìn)行定性、半定量和全定量分析

• X-Supreme8000符合ASTM D4294、ISO8754、ISO20847和ISO13032檢測方法。

日立分析儀器專注于高科技分析解決方案，幫助數(shù)以千計的企業(yè)降低成本，降低風(fēng)險，提高生產(chǎn)效率。我們實驗室級和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場檢測設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）、油品分析儀、土壤分析儀等為客戶提供材料和涂鍍層分析，在整個生產(chǎn)周期中增加價值，包括從原材料勘探到來料檢驗、生產(chǎn)和質(zhì)量控制到再循環(huán)。