Nicomp 380 Z3000系列納米粒徑與電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái),采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬(wàn)次。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。
納米粒徑與電位分析儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1、APD&PMT雙檢測(cè)器;
2、多角度檢測(cè)(multi angle)模塊;
3、可搭配不同功率光源;
4、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬(wàn)次;
5、鈀電極;
6、精確度高,接近樣品真實(shí)值;
7、復(fù)合型算法:
高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換
相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換
8、快速檢測(cè),可以追溯歷史數(shù)據(jù);
9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
10、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;
11、無(wú)需校準(zhǔn);
12、復(fù)合型算法:
(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);
(1)可自動(dòng)稀釋模塊;
(2)搭配多角度檢測(cè)器;
(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);
380/MA多角度檢測(cè)器
粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器,從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品,通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè),改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。