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環(huán)保APP正式上線

納米粒徑與電位分析儀

參考價(jià) 20
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海奧法美嘉生物科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)380ZLS&
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2019/12/18 21:08:27
  • 訪問(wèn)次數(shù)266
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奧法美嘉(Alpharmaca)科技有限公司于2010年在上海成立,立足于醫(yī)藥行業(yè),耕耘于納米科學(xué)材料,化工,半導(dǎo)體,環(huán)境科學(xué),汽車,過(guò)濾,涂料,墨水,油品等行業(yè),以專業(yè)的納米微米檢測(cè)技術(shù),“致力粒度分析,專注客戶體驗(yàn)”。這已經(jīng)成為奧法美嘉團(tuán)隊(duì)的信條。

借助于20多年的行業(yè)積累和技術(shù)儲(chǔ)備,奧法美嘉將世界上處于技術(shù)地位的粒度儀——美國(guó)PSS粒度儀公司的激光粒度儀產(chǎn)品引入到中國(guó)市場(chǎng),秉承著“傳授粒度真知”“普及粒度知識(shí)”的理念,伴隨著納米知識(shí)的普及,伴隨著中國(guó)經(jīng)濟(jì)向制造業(yè)的轉(zhuǎn)型,經(jīng)過(guò)短短幾年,奧法美嘉科技有限公司作為美國(guó)PSS粒度儀公司在中國(guó)的代表,從*中心的建立運(yùn)營(yíng),到如今覆蓋全中國(guó)銷售網(wǎng)絡(luò)和售后服務(wù)網(wǎng)絡(luò),不僅用真誠(chéng)的態(tài)度,而且用務(wù)實(shí)的專業(yè)知識(shí),獲得了廣大客戶的*。

Particle Solutions srl(意大利PSI均質(zhì)機(jī)公司)位于意大利海濱工業(yè)城鎮(zhèn)拉齊奧地區(qū),毗鄰歷史悠久的古城羅馬,由從事粒度相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)杰出的歐洲科學(xué)家以及工程師所組成的團(tuán)隊(duì)發(fā)起創(chuàng)立。公司團(tuán)隊(duì)擁有25年粒度檢測(cè)知識(shí)積累,15年儀器工業(yè)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),15年高壓均質(zhì)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)及應(yīng)用研究。

通過(guò)深入發(fā)掘客戶需求和應(yīng)用難點(diǎn),PSI團(tuán)隊(duì)研發(fā)出了新型高壓微射流均質(zhì)機(jī),其穩(wěn)定可控的均質(zhì)壓力及高剪切力保證了工藝可線性放大且可保證大產(chǎn)量需求,低噪音的設(shè)計(jì)理念可大大減緩傳統(tǒng)工藝中的高噪音對(duì)于操作人員的不利影響,小巧緊湊的機(jī)身設(shè)計(jì)可以完美適應(yīng)從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到中試及大生產(chǎn)的各種工作場(chǎng)景。自組建以來(lái),團(tuán)隊(duì)累積了大量醫(yī)藥,生物,半導(dǎo)體,新材料等行業(yè)的相關(guān)應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。依托于醫(yī)藥行業(yè)*的GMP管理理念,PSI均質(zhì)機(jī)的現(xiàn)代化數(shù)字屏幕,符合GMP法規(guī)的數(shù)據(jù)溯源系統(tǒng)將會(huì)成為未來(lái)制造業(yè)的有力保障。

現(xiàn)奧法美嘉綜合PSS粒度儀和PSI均質(zhì)機(jī),為中國(guó)制造業(yè)提供納米技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)從生產(chǎn)研發(fā)設(shè)備到檢測(cè)儀器的整套解決方案。

分析儀,檢測(cè)儀
產(chǎn)品種類 在線 加工定制
納米粒徑與電位分析儀采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。
納米粒徑與電位分析儀 產(chǎn)品信息

Nicomp 380 Z3000系列納米粒徑與電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái),采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬(wàn)次。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。

納米粒徑與電位分析儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)

 

1、APD&PMT雙檢測(cè)器;

2、多角度檢測(cè)(multi angle)模塊;

3、可搭配不同功率光源;

4、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬(wàn)次;

5、鈀電極;

6、精確度高,接近樣品真實(shí)值;

7、復(fù)合型算法:

 高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

8、快速檢測(cè),可以追溯歷史數(shù)據(jù);

9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

10、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

11、無(wú)需校準(zhǔn);

12、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);

(1)可自動(dòng)稀釋模塊;

(2)搭配多角度檢測(cè)器;

(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);

 

Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/MA多角度檢測(cè)器

 

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器,從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品,通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè),改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

15168338725
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