GCTX-2000A/B圖像顆粒分析系統是北京冠測精電儀器有限公司研制的圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統，該系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，GCTX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，GCTX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。基本工作流程是通過數字攝像頭和顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸到電腦中，用專門的顆粒圖像分析軟件對圖像進行處理與分析，通過顯示器和打印機輸出分析結果。本系統具有直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點，不僅可以用來觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、長徑比等指標，為科研、生產領域增添了一種新的粒度測試手段。

一、指標與性能
1、測試范圍： 1-3000μm。
2、系統放大倍數：4000倍。
3、zui大分辨率：0.1μm。
4、重復性誤差：<3%（不包含樣品制備因素造成的誤差）。
5、數字攝像頭(CCD)：500萬像素。
6、顯微鏡：國產生物顯微鏡、進口生物顯微鏡、金相顯微鏡。
7、標尺刻度：10μm。
8、分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等。
9、自動分割速度：< 1秒。
10、分割成功率：> 93% 。
11、軟件運行環境：Windows 2000、Windows XP。
12、接口方式：RS232或USB方式。

二、適用領域
1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。
2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。
3、用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

三、測試原理
通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統計，從而得到粒度分布等信息。

四、功能強大的圖像處理與分析軟件
1、圖像處理功能：可以對圖像進行灰度轉換、顏色轉換、自動分割、刪除、旋轉、平滑、剪切、粘貼、濾波、縮放、填充等處理。也可以對多幅圖形進行批量處理，提高樣品的代表性，是處理結果更加準確、真實、可靠。
2、數據處理功能：通過對圖像進行處理后，電腦就自動統計出顆粒數、面積、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布以及粒度分布數據與圖形。
3、打印功能：可以打印包含原始圖像的中英文兩種格式的各種分析結果報告(包括粒度分布數據、分布圖形、顆粒數、長徑比等)。

北京冠測微粒測控技術有限公司是的粉體、納米、微粒研究測試機構，專注于粉體顆粒材料檢測分析技術的自動化、試驗方法的創新和新技術的應用。

業務范圍：精密科研儀器、質量檢測儀器研發生產，同時還承接檢測服務，適用于科研院所、生產企業科研及質量檢測等

微粒納米研究測試中心

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